纳米技术与材料科学

原子至纳米尺度的 X 射线分析

凭借其短波长特性,X射线成为探测原子到纳米级微观结构的理想工具。X 射线衍射(XRD)和散射仪器与技术在这些领域发挥着至关重要的作用。我们还提供用于元素分析的 X 射线荧光(XRF)光谱仪、用于无损成像的 X 射线计算机断层扫描(CT),以及用于热力学研究的热分析仪器。理学分析仪器操作直观易用,帮助简化材料分析的复杂性,助您专注于核心科研任务。

纳米技术和材料科学

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材料科学研究

XRF、XRD 和 X 射线散射技术可精确分析元素组成、晶相、层厚及分子结构,广泛应用于生物、化学、物理和工程等领域。

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纳米技术

XRD 可以测量各类纳米结构中的原子间距,而小角 X 射线散射(SAXS)则提供纳米尺度的结构和形貌信息。这两种技术在纳米技术材料研究中都发挥着至关重要的作用。

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高级和新材料_800x600
先进材料与新型材料

新材料研究不断拓展传统分析技术的应用边界,覆盖极薄膜层表征以及 12 英寸晶圆级单一位错成像等挑战性应用。数十年来,我们一直与行业领导者合作开发尖端技术,以满足前沿研发的严苛需求。

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化学

我们提供涵盖XRF、XRD、SAXS、X 射线成像、热分析和拉曼光谱的完整解决方案,适用于研究液体、粉末、固体、薄膜或单晶等多种样品类型。这些工具操作直观,为学术研究和工业应用提供支持。

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涂层薄膜_行业_800x600
涂层与薄膜

涂层与薄膜研究需采用专门分析技术。我们提供XRF与XRR用于膜厚与成分测定, 以及XRD用于晶体取向与织构分析。这些工具广泛应用于从工艺控制到学术研究的各个环节。

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金属合金_行业_800x600
金属与合金

强度和结构完整性通常是金属部件的核心指标。这些特性可通过多种分析技术进行研究和控制,包括用于元素组成分析的XRF、用于晶相与取向分析的XRD,用于内部孔隙与裂纹的无损检测的X 射线 CT技术。

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聚合物与塑料

聚合物与塑料的研究与工艺控制涉及多维度表征。XRF可用于测定添加剂浓度,以符合 RoHS/WEEE 法规;XRD可用于 鉴别多晶型并计算结晶度;SAXS可用于探测纳米尺度的周期结构;X 射线 CT 则可三维呈现孔隙与填料的空间分布。

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复合材料 1200x627
复合材料

复合材料由两种或两种以上材料复合而成,其最终特性取决于各组分在材料中的分布。高分辨率X射线CT作为一种强大的无损成像技术,能够清晰呈现复合材料中纤维与填料的尺寸、形状及三维分布特征。

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陶瓷 1200x627
陶瓷

XRD 是研究陶瓷材料晶相组成和结构最常用的技术之一,而这些结构特征直接影响材料性能。XRF则可用于元素组成分析。

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