半导体

为半导体制造工艺的质量与可靠性保驾护航

理学半导体 X 射线计量工具旨在为半导体研发和大规模制造提供最先进、最可靠的解决方案。我们采用 TXRF、WDXRF、EDXRF、XRR、HRXRD 和 CDSAXS 等尖端技术，确保测量结果具备卓越的质量和精度。通过X 射线衍射（XRD）、X 射线荧光光谱（XRF）、X 射线反射率（XRR）和 X 射线形貌术（XRT）等计量设备，可精准测量薄膜厚度、成分、粗糙度、密度、孔隙率及晶体结构缺陷等关键工艺参数。我们还提供全反射-X射线荧光光谱及气相分解-全反射X射线荧光光谱等污染检测专用工具，实现痕量污染物分析。

依托全球全天候服务和技术支持，理学致力于为客户提供提升良率与优化工艺的前沿解决方案。选择理学，以前所未有的计量技术引领产业变革，始终保持竞争优势。