XRF

X 射线荧光(XRF)是一项用于对多种材料进行无损元素分析的分析技术。它所依据的原理是,当用高能 X 射线照射材料时,材料中的原子会被激发,并释放出特征 X 射线荧光。通过检测和分析这些释放的 X 射线荧光,可以确定样品的元素组成。

理学提供多种先进的 X 射线荧光光谱技术。每款 XRF 光谱仪各具特点,可根据样品类型、所需灵敏度和分析精度等因素,选择最适合的仪器。XRF技术 广泛应用于矿业、石油、冶金、环境监测及考古等诸多领域,对材料进行定性和定量元素分析,满足不同应用场景的分析需求。

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波长色散X射线荧光光谱仪

在 WDXRF 分析中,通过分光晶体对样品发射的 X 射线进行分光。该方法具备极高的光谱分辨率,尤其适用于谱线重叠较多的样品的精准分析。

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能量色散 X射线荧光光谱仪

在 EDXRF分析 中,探测器可以直接接收到样品所产生的 X 射线。该方法适用于环境监测、石油、矿业及材料科学等领域的常规元素分析。

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TXRF_ProductImages
全反射 XRF

在 TXRF 分析中,样品需置于平坦光滑的载片上,X 射线光束以极浅角度入射。随后,对激发产生的荧光进行探测与分析,从而实现高灵敏度、低检测限的元素分析。

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明星产品

超级迷你 200
Supermini200

是一款下照射型体积小巧的波长色散X射线荧光光谱仪,可对应固体,粉末,液体等多类型样品的分析。

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ZSX Primus IV
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是一款高性能上照射型波长色散X射线荧光光谱仪,分析元素范围从铍(Be)到锔(Cm) 。本仪器具有微区分析功能,是粉末样品的最合适选择。

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NEX CG II 系列
NEX CG II 系列

是一款高性能能量色散X 射线荧光光谱仪,本仪器备有偏振光学系统,可以在极短时间内对各类型样品进行精准的定性和定量分析。

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