材料科学研究
对金属、陶瓷或塑料等材料进行表征和成分分析是材料科学研究中的核心，这些材料是空间科学、国防技术及各类技术或产品应用的基石。理学提供一系列尖端X射线分析技术： X 射线荧光技术（XRF）用于研究半导体或其他新材料中的元素组成和膜层厚度。X 射线衍射和散射用于研究晶相、结晶度或晶体结构和取向、织构或残余应力。X 射线形貌术（XRT）用于检测半导体等先进材料中的晶体缺陷。X 射线反射技术（XRR）则可用于测量薄膜厚度、表面粗糙度和层间扩散等特性。相关的漫散射法（如 SAXS）广泛适用于研究生物、化学、物理和工程领域的薄膜、涂层和膜层或颗粒的分子结构特征。凭借先进技术和经验积累，理学为材料研究提供多种先进的无损分析解决方案与专业服务。
