化学
物质的组成、结构、性质、行为以及其在与其他物质反应或在不同环境条件下所产生的变化，都是材料的重要特性。 X 射线荧光技术（XRF）可用于主量元素与痕量元素的测定， X 射线衍射技术（XRD）可用于实验室或生产环境中晶体结构解析、物相分析和定量研究。
X 射线分析适用于粉末、固体、液体、浆料、薄膜及单晶等多种样品形态。理学为学术研究和工业应用提供丰富的解决方案，涵盖通过 X 射线看获取的各类成分和结构信息，这些技术方案支持包括： X 射线衍射（XRD）与差示扫描量热法（DSC）联用、计算机断层扫描（CT）、手持式拉曼、小角 X 射线散射（SAXS）、广角 X 射线散射（WAXS）、X 射线反射法（XRR）和 X 射线形貌术（XRT）。
