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小角 X 射线散射产品系列

小角 X 射线散射（SAXS）是胶体/纳米尺度结构表征的核心技术：通过将低发散度的 X 射线束聚焦于样品，利用内部电子密度差异所产生的相干散射信号进行解析。

由于需要分析的结构尺寸远大于所使用的 X 射线波长（如铜辐射为 1.54 Å）。因此，仅需在小角度范围内进行测量，即可解析从几十 Å 至数千 Å 的结构尺寸。利用粒度尺寸与散射角之间的反比关系来分析角度范围或散射图样，可以解析出样品中的形貌与尺寸特征。

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