先进材料与新材料
现代生活的方方面面都受益于涂层与薄膜技术。无论是分析集成电路芯片中的阻挡层薄膜，还是铝制饮料罐上的转化涂层，X 射线分析技术都是此类材料研发、生产过程控制和质量保障中不可或缺的一部分。通过X射线荧光光谱（XRF），可精确测定涂层、薄膜、多层结构、功能材料、太阳能电池、电池组件、半导体、纳米材料及众多其他材料的厚度与元素组成。
X射线形貌术（XRT）可用于研究晶体缺陷，X 射线反射率技术（XRR）可用于测量薄膜厚度、表面粗糙度和层间扩散。X 射线衍射（XRD）及其关联的漫散射技术（如 SAXS）正在成为薄膜和纳米技术研究的主要推动力，能够深入解析生物、化学、物理和工程领域中的薄膜、涂层、多层结构或颗粒的分子结构本质。理学公司凭借其先进技术与丰富经验，为客户提供一系列非破坏性、尖端化的分析解决方案与专业服务。
