X 射线衍射(XRD)是研究陶瓷晶相组成和结构的最常用技术,这些参数对陶瓷材料性能具有重大影响。与此同时,X 射线荧光(XRF)分析技术也广泛应用于陶瓷和玻璃材料的元素分析。
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