理学产品系列

晶体学是一项重要的科学技术手段，可在原子尺度精确揭示晶体材料的三维结构信息。

X 射线衍射与散射技术不仅能够在原子尺度研究晶体和非晶材料，还可分析各类固体材料的纳米级形貌特征。

X射线荧光分析（XRF） 广泛应用于采矿、石油、冶金、环境科学及考古等多个领域，可对各种材料进行定性与定量元素分析。

无损成像技术可在不破坏样品完整性的前提下，用于检测、分析与质量控制。此外， X 射线CT高分辨率三维成像技术也广泛应用于材料科学与生命科学研究领域。

热分析包括一系列研究材料随温度变化而产生的物理变化及化学变化的科学技术。

理学手持式拉曼分析仪可在您最需要的场景下、对材料进行快速检测、精准识别与可靠验证。

理学提供基于 EDXRF 或 X 射线透射技术的在线元素分析控制仪器。