地质与矿物

物相、元素与化学分析

在研究行星演化过程与地球物质组成时，地质学家需要对岩石及矿物样本的成分与分子结构进行系统分析。X射线分析技术长期作为地质研究的核心手段，凭借微区激发、面扫描分析与无标样定量分析等先进功能，进一步拓展了其分析能力。

X 射线荧光（XRF）技术是表征地质材料元素组成的关键技术。新一代波长色散型X射线荧光（WDXRF）光谱仪采用微区分析技术与XY样品台，可自动完成多点测量，生成化学成分分布图。

高性能能量色散型X射线荧光（EDXRF）光谱仪，可以在不破坏、消解、前处理样品的情况下，实现从钠到铀元素的快速、无损分析。

X 射线衍射（XRD）技术用于物相组成的定量分析。X 射线衍射数据的Rietveld修正是目前公认的最强大的晶相定量分析方法。理学凭借其先进技术与专业经验，为上述分析需求提供多种独特解决方案。