リガクはJASIS2026に出展します

9/2（水）　11:45～12:15

微小領域X線回折測定を実現する高性能ラボ装置とその活用例

【講演概要】材料・デバイスを対象に、数十µm領域のX線回折測定を可能とする高性能ラボ装置を紹介する。金属材料や各種デバイスへの活用例を示す。

【会場】TKP（旧アパホテル）会場No.4

9/2（水）　13:15～13:45

AI駆動型材料開発を速くする：XRD・XRF自動測定・解析システム LabLinc Studio

【講演概要】近年、AIを使った新規材料開発の需要が高まっている。その中でもX線分析は材料開発における物理特性評価に欠かせない手法である。本発表では、AI駆動型材料開発向けの最新の自動化システムを紹介する。

【会場】幕張ﾒｯｾ会議場 103会議室

9/2（水）　14:00～14:30

TG-DSCの基礎から最新技術まで丸ごと解説：最新モデルSTAvestaによる測定事例

【講演概要】熱重量-示差走査熱量測定（TG-DSC）装置の最新機種、STAvestaを用いたアプリケーションを解説する。TG-DSCの基礎から応用事例まで幅広く役に立つ情報を提供し、同時に最新装置の強みを紹介する。

【会場】幕張ﾒｯｾ会議場 105会議室

9/2（水）　15:45～16:15

事例で学ぶ結晶性高分子評価：X線回折・散乱法による構造解析入門

【講演概要】X線回折・散乱法による結晶性高分子の構造解析では、結晶化度や配向度評価から耐久性などの材料特性を考察することができる。本講演では代表的な解析例を用いながら、構造評価のポイントをわかりやすく解説する。

【会場】幕張ﾒｯｾ会議場 101会議室

9/3（木）　10:15～10:45

電池劣化解析をルーチン化する：XES Chimicaによる電極レドックス状態の自動解析とSOC/SOH評価

【講演概要】X線発光分光装置XES Chimicaは、XPSやXAFSでは難しい化学状態分析の自動定量を可能とする。本講演ではLiFePO4系大型リサイクル電池などの劣化解析への適用例を紹介する。

【会場】TKP（旧アパホテル）会場No.4

9/3（木）　12:30～12:30

研究から品質管理までを支えるX線回折：卓上型装置の活用法

【講演概要】卓上型XRDによる様々な試料の測定事例を紹介する。卓上型でも様々なアプリケーションに適用可能であり、研究開発から品質管理まで幅広い活用法を示す。

【会場】TKP（旧アパホテル）会場No.7

9/3（木）　13:30～14:00

微小部分析への新たな選択肢：高精度分析と直感的な測定・定量を両立したµXRF装置『Qualana』

【講演概要】電子部品や電池の異物など微小試料では高精度な分析が求められる。Qualanaは直上照射による高い位置精度に加え、直感的な操作や信頼性の高いFP分析を備える。本発表では分析例からその特長を紹介する。

【会場】TKP（旧アパホテル）会場No.1

9/4（金）　12:00～12:30

AIを用いたX線薄膜解析のハイスループット化

【講演概要】反射率測定やロッキングカーブ測定は薄膜分析に広く用いられるが、大域最適化によるデータ解析には時間を要する。本発表ではAIによる初期値推定と局所最適化を組み合わせた解析時間を大幅に短縮するツールを紹介する。

【会場】幕張メッセ会議場 103会議室

9/4（金）　14:00～14:30

医薬品・化粧品・食品分析のためのXRFの基礎： ppmレベル分析の信頼性を高める測定・解析テクニック

【講演概要】XRF分析は測定が容易な一方、分析値のばらつきの原因や確からしさが分かりにくい。本講演では、良い分析値を得るための試料前処理や分析条件設定、分析値評価のポイントを、実例を交えて分かりやすく解説する。

【会場】TKP（旧アパホテル）会場No.8

9/4（金）　15:45～16:15

非破壊で視る、1 µm以下で描かれる世界： ナノスケールX線CTが拓く新しい観察領域

【講演概要】電子部品・電池・複合材料などの微細構造解析に向け、非破壊で内部構造を1µm以下の分解能で観察できるナノスケールX線CT装置を開発した。本講演では装置の特長と観察事例を紹介する。

【会場】幕張メッセ会議場 101会議室