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XRD

MiniFlex XpC

小型X線回折装置

さまざまな自動化環境に対応したX線回折装置

MiniFlex XpCは、品質管理から研究開発まで、用途や設置環境に合わせて柔軟に活用できるX線回折装置です。

新たにベンチトップモデルを追加し、研究室から生産現場まで幅広い運用環境に対応しました。品質管理の自動化から、AIを活用した新規材料開発における自動自律実験まで、用途に応じて柔軟にシステムを拡張できます。

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MiniFlex XpC 概要

品質管理から自動自律実験まで、より柔軟に

新たにベンチトップモデルを追加し、用途や設置環境に応じてベンチトップモデルとフロアスタンドモデルを選択できるようになりました。品質管理の現場からラボまで、それぞれの運用に合わせた最適なシステムを構築できます。

低コスト・省スペースなのに高スループット

品質管理に最適化した800W省エネルギーX線源と、検出面積の広い高速検出器を搭載。従来の高出力X線回折装置に匹敵するスループットを実現しました。 設置スペースや導入・運用コストを抑えながら、高効率な測定を行えます。

品質管理に適した高耐久・高精度の試料水平ゴニオメーター

高耐久・高精度ゴニオメーターを採用。24時間連続運転で6か月以上のエラーフリー運転実績を達成しています。 計画外のダウンタイムを抑え、品質管理に求められる安定した測定を支えます。

MiniFlex XpC 特長

省スペース
リガク独自に開発した品質管理用小型X線源、小型水平ゴニオメーターと、サンプルローダーの最適化設計により、業界最小のフットプリント（他社比較最大37％減）を実現。
さまざまな自動化環境に対応
日常の運用から自動化システムとの連携まで見据えたオートメーションに対応した装置です。ベンチトップモデルとフロアスタンドモデルを選択でき、品質管理（QC）やAIを活用した材料開発・自動自律実験まで、お客様の用途や運用に合わせて柔軟にシステムを拡張できます。
コスト低減
生産現場での品質管理のために開発された、省エネルギーかつコンパクトな800 W X線源と、大面積高速１次元検出器（他社比較面積67%増）を小さなスペースに収めることで、無駄を省くと同時にX線強度の利用率を高め、従来の高出力X線回折装置以上のスループットの実現と、コスト低減、省スペースを同時に実現。
柔軟な試料ハンドリング
8試料交換機が標準装備。搬送用ロボット付のオプションと組み合わせで最大24試料の測定に対応します。また、ベルトコンベヤから運ばれた試料の自動測定にも対応します。
ダウンタイム削減
厳しい耐久性試験をパスした要素部品および測定システムのみを採用。実際の現場でも24時間稼働で6か月以上のエラーフリー、ノンストップ測定を達成。高耐久で自動化された分析装置は、生産性低下やコスト増加を引き起こす計画外ダウンタイムを削減します。
分析装置自動化のためのインターフェース
Rigaku Automation Interface：RAIは、お客様のホストシステム、ロボットやベルトコンベヤなどの自動搬送機構とリガクの分析装置を接続するための共通インターフェースです。各装置へ個別に接続するのではなく、RAIを介して測定指示、装置制御、データ取得を行うことで、自動搬送機構との接続をシンプルにします。

MiniFlex XpC 仕様

製品名 MiniFlex XpC
手法 Ｘ線回折（XRD）​
用途 品質管理・自動化対応小型X線回折装置​
テクノロジー 自動化対応品質管理用ソフトウェアEasyXを搭載したθ-θ Ｘ線回折装置​
主要コンポーネント 小型Ｘ線発生装置、試料水平小型ゴニオメーター、高分解能・高速1次元Ｘ線検出器 D/teX Ultra250、試料ローディング機構
制御(PC) Windows® 11 Pro 64bitタッチパネルディスプレイ（別置きPCとの組み合わせも可能です）​
本体寸法 デスクトップモデル：700mm(W) x 840mm(D) x 925mm(H)
フロアスタンドモデル：700mm(W) x 840mm(D) x 1690mm(H) ​
重量 デスクトップ型：230kg
フロアスタンドモデル：310kg​
電源 1φ、AC200-230 V±10％、50 /60 Hz±1％、6.5 A​

MiniFlex XpC アプリケーションノート

以下のアプリケーションノートはこの製品に関連しています。

MiniFlex XpC イベント

学会や展示会にご参加の際は、リガクの展示ブースにぜひお立ち寄りください。

  • 東京大学・リガク産学連携室　2026年度冬期　Ｘ線解析セミナー　初心者編『粉末Ｘ線回折法の基礎とアプリケーション紹介』
    2026年11月12日木曜日 - 2026年11月12日木曜日
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  • 東京大学・リガク産学連携室　2026年度冬期　Ｘ線解析セミナー　初心者編『薄膜X線回折測定による薄膜構造評価の基礎とアプリケーション紹介』
    2026年12月8日火曜日 - 2026年12月8日火曜日
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  • 高分子分析はここまでわかる―XRD・XRF・熱分析の測定事例と活用法
    2026年12月17日木曜日 - 2026年12月17日木曜日
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