小角X線散乱装置

小角X線散乱（SAXS）は、ナノサイズ粒子または空孔の構造的特徴を分析するための手法です。低発散X線ビームを試料に集光し、試料内の電子密度の不均一性から生じる散漫散乱パターンを測定します。

一般に解析対象となるサイズは、典型的X線の波長（Cuの場合、1.54 Å）よりもはるかに大きいため、数十から数千オングストロームのサイズを狭い散乱角度範囲内で測定することになります。この角度範囲における散乱パターンに基づいて、粒子サイズと散乱角度との関係を利用して、試料内の特徴的な形状とサイズを決定します。