SmartLab Studio II
X線分析統合ソフトウェア
測定から解析まで、X線分析のすべてをこなす統合ソフトウェア
SmartLab Studio II は、全自動多目的X線回折装置SmartLabによる測定、および得られたデータの解析を行う統合ソフトウェアです。SmartLab Studio II は、調整・測定・解析・レポート作成まで、X線分析のすべての作業をサポートします。プラグインテクノロジーの採用により、SmartLabに必要な機能がいくつかのプラグインに分割されています。測定プラグインには、リガクの熟練者のノウハウを結集した「パーツアクティビティ＊1」が用意されており、初心者の方でも、常に最高のデータを得ることができるよう設計されています。解析プラグインでは、用意されたフローバーに沿って誰でも簡単に解析を進めることができます。熟練者にはソリューションツリーが用意され、一段上の解析を容易に行うことができる仕組みも実装されています。
SmartLab Studio II 特徴
SmartLab Studio II 動画
SmartLab Studio II オプション
以下のアクセサリーが、この製品で使用できます。
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人工知能搭載 - 結晶相同定
このAI（Artificial Intelligence：人工知能）搭載モジュールは、類似した試料の分析の中で、不純物や異物などマイナー相の同定が難しい場合に効果を発揮します。
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人工知能搭載 - XRDプロファイル分解
このAI（Artificial Intelligence：人工知能）搭載モジュールは、未知の混合物のX線回折（XRD）パターンを複数の成分に分離し、各相の定量分析を行うことができます。
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人工知能搭載 - X線反射率分析診断
このAI（Artificial Intelligence：人工知能）搭載モジュールは、X線反射率（XRR）解析の質と精度を向上させるために、シミュレーションモデルをどのように修正すれば良いかを提案します。
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RMC法
Reverse Monte-Carlo RMC 法は、R. L. McgreevyとL. Putzaiらによって報告された実測値を再現する構造モデルを探査する手法であり、当初は液体や非晶質の構造探査手法としてよく使われていました。
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全散乱測定
PDF解析のための測定は、全散乱測定(Total Scattering Measurement)と呼ばれており、 その理由は、回折ピークだけではなく通常のXRD測定ではバックグランドとして取り扱われる局所構造を反映したブロードな散乱強度(散漫散乱)も解析に使用するためです。
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