X線回折・散乱装置

X線回折法(XRD)は、主に粉末材料を分析するため広く使用される手法であり、その結晶相組成や結晶粒径について知見が得られます。回折ピークの位置と強度を分析することで、研究者は材料の格子定数、結晶構造などを決定することができます。XRDはまた、機械的な応力やひずみによる格子面間隔の変化を回折ピーク位置の変化として検出することで、材料内部の応力を定量化することができます。

小角X線散乱法(SAXS)では、試料中のナノ粒子、空孔、または他のナノ構造物のサイズ分布、形態、配置に関する情報が得られます。

X線回折装置、小角X線散乱装置は、材料科学、冶金学、地質学、製薬研究などにおいて重要な役割を果たし、先端材料の特性評価や開発を支援しています。

製品ライン

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XRD_ProductImages
X線回折

リガクは、アカデミック・産業界のお客様と協力して、さまざまなX線回折装置を開発し、今日、先進的で多目的かつコスト効果の高いソリューションを提供しています。

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SAXS_ProductImages
小角X線散乱

SAXSシステムは、科学研究や産業分野で貴重な分析ツールです。材料のナノ構造について重要な情報を提供し、材料科学、ナノテクノロジー、構造生物学などのさまざまな分野の進歩に貢献しています。

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Stress_ProductImages
応力解析

X線回折パターンにおけるピーク位置の変化やピークの広がりなどから、材料内部の応力やその分布を定量化することができます。機械的な負荷を受ける部品の設計や最適化に役立ちます。

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