什么是 X 射线拓扑成像？
晶体材料缺陷的可视化
X 射线拓扑成像（X-ray topography）是一种基于布拉格衍射的成像技术。衍射拓扑图记录的是晶体衍射 X 射线束的强度分布。拓扑图因此表示反射 X 射线的二维空间强度映射，即劳厄反射的空间精细结构。这种强度分布反映了晶体内部散射能力的分布情况，因此，拓扑图能够揭示非理想晶格中的不规则性和缺陷。
X 射线衍射拓扑成像是 X 射线成像技术的一种变体，它利用的是衍射对比，而非射线照相和计算机断层成像（CT）中通常采用的吸收对比。XRT 被广泛用于晶体质量监测以及多种晶体材料中缺陷的可视化。例如，在新晶体生长方法的开发过程中，可用于监控晶体生长情况及所获得的晶体质量，并通过反复优化生长条件来改进结果。在许多情况下，拓扑成像无需对样品进行制备或造成损伤，因此属于一种无损检测技术。
