低温X射线衍射
用于研究需要原位（in situ）表征的动态过程
在非环境条件（如变温、控气氛等）下进行的 X 射线衍射（XRD）可用于多种研究应用，尤其适用于对需要原位研究的动态过程进行表征。这类过程包括：固相反应、相变过程、晶粒生长、热膨胀等。
X 射线衍射可作为传统热分析技术（如热重分析 TG、差示扫描量热 DSC 等）的重要补充手段，能够有效提供物相鉴定、织构分析以及晶粒尺寸测量等关键信息。
此处展示的是适用于 SmartLab 的 Anton Paar TTK 600 低温样品台。该装置采用液氮冷却的样品加热/冷却台，具有宽广的温度范围和良好的易用性，适用于多种应用场景。系统配备刀口光阑（beam knife），并可选配零背景样品台，特别适合在低 2θ 角区域对有机材料进行测试。温度范围：-190 °C ～ 600 °C；可用气氛：空气、惰性气体、真空（10⁻² mbar）。
