Röntgendiffraktion bei niedrigen Temperaturen

Untersuchung dynamischer Prozesse, die in situ untersucht werden müssen

Die Röntgendiffraktion (XRD) unter Non-Ambient-Bedingungen kann für eine Vielzahl von Anwendungen genutzt werden, darunter auch für die Untersuchung dynamischer Prozesse, die in situ untersucht werden müssen. Beispiele für solche Prozesse sind Reaktionen im festen Zustand, Phasenübergänge, Kristallitwachstum, thermische Ausdehnung usw. Röntgendiffraktion kann als sehr informative Ergänzung zu anderen, traditionelleren thermischen Analysetechniken (Thermogravimetrie, Differential-Scanning-Kalorimetrie usw.) eingesetzt werden und ermöglicht so eine effektive Phasenidentifikation, Texturanalyse und Kristallitgrößenmessung.

Das Bild zeigt die Tieftemperaturkammer TTK 600 von Anton Paar für das SmartLab. Probenkühl- und Heizstufe mit Flüssigstickstoffkühlung. Großer Temperaturbereich und einfache Bedienung für eine breite Palette von Anwendungen. Mit Strahlmesser und optionalem Nulluntergrund-Probenhalter für die Untersuchung organischer Materialien bei niedrigen 2θ-Winkeln. Temperaturbereich: -190°C bis 600°C Atmosphären: Luft, Inertgas, Vakuum (10-² mbar).