跳至主要内容
Rigaku 标志

什么是涂层与薄膜分析？

现代生活的各个方面都受益于涂层或薄膜技术。无论是集成电路芯片中的阻挡层薄膜，还是铝制饮料罐上的转化涂层，X 射线分析技术都是研发开发、生产过程控制和质量保证的重要组成部分。

X 射线荧光（XRF）可用于确定金属涂层的厚度和元素组成。在半导体制造过程中，X 射线反射测量（XRR） 常被用作计量工具，用于测量多层涂层堆叠的层厚，同时还可表征其他涂层性质，如表面粗糙度和层间扩散。
作为纳米技术研究的重要推动手段，X 射线衍射（XRD）及相关技术用于研究薄膜的分子结构特性。理学的技术和经验为涂层和薄膜测量提供了多种无损分析解决方案。

产品 |应用说明

涂层和薄膜

理学推荐以下产品

SmartLab

搭载引导专家系统软件的高分辨率X射线衍射系统

了解更多
SmartLab SE

内置智能引导系统的高通用性多功能X射线衍射仪

了解更多
MiniFlex

新型第六代通用台式 X 射线衍射系统，用于物相鉴定和定量分析

了解更多
ZSX Primus IV

高功率上照式顺序型WDXRF光谱仪，搭载全新ZSX Guidance专家系统软件

了解更多
ZSX Primus III NEXT

兼具经济性的高端工业分析WDXRF光谱仪，上照式，专用于固体样品

了解更多
ZSX Primus IVi

高功率下照式顺序型WDXRF光谱仪，搭载全新ZSX Guidance专家系统软件

了解更多
Supermini200

台式下照式顺序型WDXRF光谱仪，可分析固体、液体及粉末样品，元素检测范围覆盖氧（O）至铀（U）

了解更多
NEX CG II Series

面向复杂基体与痕量元素分析的高性能间接激发EDXRF解决方案

了解更多
NEX DE 系列

高功率 60 kV EDXRF 系统，实现高速、高精度与微区分析

了解更多
NEX QC 系列

集卓越品质、性价比高性能于一身，满足多领域应用需求

了解更多
NEX LS

适用于卷材及带材应用的在线实时涂布量分析系统

了解更多
Rigaku Automation Interface

Open Python orchestration interface for seamless integration and safe testing

了解更多
LabLinc Studio

Close Your AI discovery loop with LabLinc Studio

了解更多

应用说明

以下是与该技术相关的应用说明

联系我们

无论您有意获取报价、需要演示、寻求技术支持，还是仅需咨询相关问题，我们随时为您提供协助。

联系销售
联系售后服务
办公地址