全反射 X 射线荧光光谱（TXRF）是一种功能强大的分析技术，用于对痕量元素浓度极低的样品进行元素分析。在 TXRF 中，主 X 射线束以非常浅的角度射向样品，在样品表面产生全反射。这就在样品的薄层内产生了 X 射线驻波，最大限度地提高了 X 射线与样品材料之间的相互作用。通过检测样品发出的X射线荧光，以确定元素组成和浓度。TXRF 在分析液体样品或极少量样品时尤其具有优势，因为它灵敏度高、重现性好、检测限低，是环境监测、纳米技术和半导体分析等领域的宝贵工具。
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