SmartLab
配备引导软件的多功能自动化 X 射线衍射仪（XRD）
粉末衍射、薄膜表征、小角散射（SAXS）、面内散射与原位（operando）测量
理学 SmartLab 是当前最卓越的高分辨率X 射线衍射仪（XRD）。其最显著的特点在于全新的 SmartLab Studio II 软件。该软件搭载了智能用户引导专家系统，能逐步引导操作人员完成复杂的实验流程，宛如一位资深专家相伴在侧，助您从容应对各类分析挑战。
SmartLab 概览
新型SmartLab X 射线衍射系统集成高通量 9 千瓦旋转阳极 X 射线源 PhotonMax ,与高能量分辨率二维半导体探测器 HyPix-3000，后者支持 0D/1D/ 2D多模式 测量，可通过单个探测器覆盖所有应用场景，规避了了为不同应用准备和切换多探测器的复杂操作。HyPix-3000 探测器可用于获取二维粉末衍射图谱，利用全维度信息从而实现高精度的定性分析。该系统内置高分辨率 θ/θ 闭环测角仪驱动系统，可选配面内衍射臂。该系统配备新一代的交叉光束光学器件（CBO）系列全自动切换反射/透射的光学器件（CBO-Auto）。
专为实用性而设计的 XRD
SmatLab结合了计算机控制的对准系统与全自动光学系统，并在 SmartLab Studio II 软件中内置了智能用户引导功能，实现了硬件模式的便捷切换，确保复杂的硬件不会阻碍您的研究。
重新定义功能的 XRD
无论您研究的是薄膜、纳米材料、粉末还是液体，SmartLab 均能为您提供所需的 XRD 测试功能。该设备支持粉末、液体、薄膜以及纺织品等多种样品的测试，并支持样品的选区分析。全新的SmartLab Studio II集成软件平台涵盖了从测量到分析的全部功能，用户可轻松完成实时原位（Operando）测试。此外，系统内置严格的安全验证协议，确保软硬件组件符合 FDA 21 CFR Part 11（美国电子记录与电子签名法规）等监管标准。
SmartLab 功能
SmartLab 视频
SmartLab 技术规格
| 技术原理 | X 射线衍射 (XRD) | |
|---|---|---|
| 应用场景 | 粉末衍射、薄膜表征、小角散射（SAXS）、面内散射、原位（Operando）测试 | |
| 仪器类型 | 全自动高分辨率 θ-θ 型多功能 X 射线衍射仪XRD (配备专家系统引导软件) | |
| 标准配置 | 3 kW密封 X 射线管 CBO 光学系统 D/teX Ultra 250 硅条探测器 |
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| 可选配置 | 高通量 9 kW旋转阳极 X 射线源PhotonMax 面内衍射臂（五轴测角仪） 高能量分辨率二维 HPAD 探测器HyPix-3000 Johansson Kα₁ 单色化光学元件 |
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| 控制系统 | 外置PC、MS Windows 操作系统、SmartLab Studio II 软件 | |
| 尺寸 | 1300（宽）×1880（高）×1300（深）mm | |
| 整机质量 | 密封管：约 750 千克 旋转阳极：约850 千克 |
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| 电源要求 | 密封管：单相, 200-230 V 50/60 Hz, 40 A 或 三相 200 V 50/60 Hz, 30 A 旋转阳极：三相， 200 V 50/60 Hz, 60 A |
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SmartLab 选配项目
本产品可选配以下附件：
SmartLab 应用说明
以下应用说明与本产品相关
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B-XRD1165 - Phase Identification and Quantitative Analysis of Iron Ore by X-ray Diffraction
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BATT1018 - XRD Measurement with Temperature Control and Charge/Discharge Using Laminated Cells
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BATT1017 - XRD Measurement during Charge/Discharge Using All-Solid-State Batteries
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BATT1016 - XRD Measurement During Charge/Discharge Using Laminated Cell Batteries
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BATT1015 - Local Structure Analysis of Li₃PS₄ Solid-State Electrolyte
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BATT1012 - Inference of Valence and Li Ion Diffusion Path Using the BVS Method
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BATT1011 - Measurement of Cathode Material NCM Using XSPA-400 ER High-Energy Resolution Detector
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BATT1010 - Investigation of Phase Transition Behavior upon Cathode Material NCM Firing
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PHRM0002 - In-Situ DSC-Humidity PXRD Analysis for Pharmaceuticals
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BATT0002 - Battery Material Characterization
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BATT0001 - Battery Material Development
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B-XRD1143 - Verifying the Validity of Crystallite Sizes Determined by the FP Method
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B-XRD1129 - Variable Humidity Measurement of a Drug Substance using XRD-DSC and a Humidity Controller
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B-XRD2034 - Twist Width Evaluation of Group III-V Nitride Films by Rocking Curve Measurement
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B-XRD1109 - Structure Determination of Ferroelectric Nano-powder by PDF Analysis
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B-XRD1131 - Structural Characterization of Zeolite by PDF Analysis
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B-XRD1136 - Structural Characterization of Zeolite by Electron Density Analysis
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B-XRD1112 - Structural Analysis of Amorphous Silica by PDF Analysis
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B-XRD1123 - Simultaneous Operando XRD Measurement for Positive and Negative Electrode Materials
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B-XRD1080 - Rietveld Analysis of Battery Material using a Mo Source
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B-XRD1118 - Quick Pole Figure Measurement of a Metal Material using 2DD
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B-XRD1119 - Quantitative Characterization of Polymer film by Orientation Function
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B-XRD1120 - Quantitative Analysis of Pharmaceutical Polymorphic Forms via the DD Method
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B-XRD1115 - Quantitative Analysis of γ-Al₂O₃ by the DD Method
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B-XRD1132 - Quantitative Analysis of Glass with the DD Method
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B-XRD1142 - Quantitative Analysis of Crystal Polymorphs by the DD Method
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B-XRD1001 - Quantitative Analysis of a 4-component Sample
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B-XRD1111 - Quantitative Analysis of 3-component Sample by DD method
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B-XRD1125 - Quantification of the Taste of Salt by DD (Direct Derivation) Method
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B-XRD1002 - Quantification of a 4-component Sample using RIR method
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B-XRD1043 - Powder Crystal Structure of Organic Crystals
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B-XRD1121 - Phase Identification of Mixed Powder by Real-time Analysis
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B-XRD2023 - Phase Identification of an Organic Thin Film by GIWAXS Measurement with a 2D detector
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B-XRD1103 - Phase Identification of a Coarse-grained Trace Component in a Mineral Powder using 2D XRD
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B-XRD2020 - Phase ID and Orientation Analysis for Thin Film SOFC Material using 2DD
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B-XRD1137 - Phase ID Analysis of Micro-impurities on the Surface of a Tablet by Micro-area XRD Measurements
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B-XRD1021 - Phase Changes of Pharmaceuticals as a Function of Temperature and Humidity
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B-XRD1110 - Particle Size Distribution Analysis of Ferroelectric Nanopowder by USAXS
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B-XRD1102 - Particle Size / Distribution of Pigment Ink by USAXS
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B-XRD1030 - Particle Diameter Distribution of Gold Nanoparticles
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B-XRD2009 - Orientation Analysis of Organic Thin Film on Single Crystal Sub by In-plane XRD
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B-XRD2005 - Orientation Analysis of Organic Thin Film on Rubbed Glass by In-plane XRD
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B-XRD1124 - Operando Transmission XRD Measurement of All-solid-state Lithium-ion Battery using Ag Source
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B-XRD1116 - Operando Measurement of Laminated Lithium-ion Battery using 2DD
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B-XRD2028 - Off-normal Fiber Texture Analysis by Pole Figure Measurement
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B-XRD2032 - Observation of Orientation State of Polypropylene Film Products by 2D-GIWAXS Measurement
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B-XRD1020 - Observation of Dehydration Process of Hydrate by XRD-DSC
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B-XRD1128 - Observation of Dehydration Behavior of a Drug Substance using TG-DTA and XRD-DSC
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B-XRD1026 - Observation of Crystallization Behavior of Ionic Liquids by XRD-DSC
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B-XRD1135 - Observation of Butter Crystal by Simultaneous XRD-DSC Measurement
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B-XRD1117 - Observation of a Phase Transition at High Temperature under Various Atmospheres
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B-XRD1089 - Micro-area Mapping Measurement of Printed Circuit Boards
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B-XRD1023 - Measurement of Pseudo-polymorph Impurities in Tablets
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B-XRD1107 - Material Characterization by PDF and RDF Analysis
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B-XRD2003 - Magnetic Recording Media (FePt) by In-plane XRD
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B-XRD1114 - LOQ of Trace Impurities in API by the DD Method
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XRD1003 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (3): Confirming Hydrates
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XRD1002 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (2): Confirming the Presence/absence of Amorphous Substances
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XRD1001 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (1): Confirming the crystal form of an API
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B-XRD1105 - High-speed in-situ Measurement of Melting Process of Metal
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B-XRD2021 - High-speed RSM of an Epitaxial Film by 1D Detection Mode
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B-XRD2024 - High-speed RSM of a III-nitride Epitaxial Film by 1D Detection Mode
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B-XRD2007 - Examination for Growth Process of Organic Thin Film by In-plane XRD
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B-XRD2030 - Evaluation of Uniformity of Thin Film Thickness by X-ray Reflectivity Mapping
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B-XRD2027 - Evaluation of Uniformity of a Single CrystalSubstrate by Rocking Curve Measurement
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B-XRD1122 - Evaluation of the Crystallinity of a Carious Tooth using X-ray Diffraction
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B-XRD3005 - Evaluation of Residual Stress of Thin Films by GI-XRD and the Multiple hkl Method
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B-XRD1113 - Evaluation of Oxidation State by the BVS Method
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B-XRD1150 - Evaluation of Graphitization Degree of Lithium-ion Battery Carbon Anode Material by X-ray Diffractometry
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B-XRD1104 - Evaluation of Grain Condition and Orientation of Cemented carbide using 2D XRD
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B-XRD2031 - Evaluation of Curvature of a Single Crystal Substrate by Rocking Curve Measurement
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B-XRD1078 - Evaluation of Crystallite Size and Pore Size distribution of Fuel Cell Materials
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B-XRD2001 - Evaluation of Crystal Quality (Tilt and Twist Qidths) of Group-III Nitride Film by the Rocking Curve Method
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B-XRD1108 - Direct Observation of Melting and Crystallization of Fresh Cream
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B-XRD1126 - Crystallization of Chocolate Observed by XRD-DSC
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B-XRD1018 - Crystallite Size Distribution of Zinc Oxide Nanoparticles
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B-XRD1035 - Crystal Structure Analysis of a Powder Sample of Pharmaceutical Cocrystals by the Rietveld Method
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B-XRD1046 - Crystal Phase Identification of Pharmaceutical Materials in the Freeze Drying Process
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B-XRD1044 - Crystal Phase Identification of Carbide Tips by Micro-area 2D X-ray Diffraction
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B-XRD2006 - Crystal Orientation Evaluation of Epitaxial Film and Ultrathin Buffer Layers by In-plane Reciprocal Space Mapping
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B-XRD1014 - Crystal Orientation Analysis of Rolled Sheet Material by Pole Figure Measurement
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B-XRD2022 - Crystal Defect Analysis by X-ray Reflection Topography
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B-XRD1009 - Charging-discharging of Cathode Materials in Li-ion Batteries
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B-XRD1106 - Charge/discharge Process of Li-ion Battery Positive Electrode
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B-XRD1139 - Calculation of Molecular Stacking Spacing of Copper Phthalocyanine using PDF Analysis
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B-XRD2025 - Analysis of Uniaxially Oriented Film by Wide-range RSM
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B-XRD2026 - Analysis of Epitaxial Films on In-plane Anisotropic Substrates by Wide-Range RSM
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B-XRD1141 - Observation of time-dependent hydration reaction by X-ray diffractometry
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B-XRD1011 - Temperature Dependence of a Lattice Constant
SmartLab 资源
网络研讨会
| 电池研究中的 X 射线衍射测量 | 观看录音 |
| 用于日常电池分析的配对分布函数 (PDF) 分析 | 观看记录 |
| 如何在操作中运行 XRD 实验 | 观看视频 |
| 全衍射和非晶材料特性分析 | 观看视频 |
| 何时使用 XRD 以及如何为锂离子电池研究设置实验 | 观看视频 |
| 同步 XRD-DSC - 总和远远大于部分 | 观看记录 |
| 制药应用中的成分分析和无标准定量分析 | 观看记录 |
| 在石棉和可吸入硅调查中使用 X 射线衍射 (XRD) 的深入概述 | 观看视频 |
| 用于半导体材料的 Smartlab XRD 解决方案 | 观看记录 |
| 电池材料的 X 射线分析解决方案介绍 | 观看视频 |
| 使用原子对分布函数分析验证非晶和非晶体系的分子结构 | 观看录像 |
| 用于制药的粉末 X 射线衍射 (XRD) | 观看记录 |
| 提高水溶性差药物的溶出率--X射线衍射在药物制剂开发中的作用 | 观看记录 |
| 制药中的 XRD-DSC 组合 | 观看视频 |
| 化学计量和统计分析技术在 X 射线衍射数据中的应用：定量分析和批次释放 | 观看记录 |
| SmartLab Studio II 中符合第 11 部分要求的功能介绍 | 观看录音 |
| 关于里特维尔德方法中的衍射线轮廓 | 观看录音 |
理学杂志文章
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刊物
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SmartLab 活动
在以下活动中了解更多我们的产品
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活动日期地点活动网站
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ICDD Summer School 20262026年6月1日 - 2026年6月5日Newton Square, PA
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XRD for Thin Films: Choosing the Right Measurement for Structure, Strain, and Thickness2026年6月3日 - 2026年6月3日Webinar
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ACA Summer School 20262026年6月7日 - 2026年6月14日West Lafayette, IN, USA
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9th International Workshop on Crystal Growth Technology (IWCGT-9)2026年6月8日 - 2026年6月11日Berlin, Germany
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PorMat 20262026年6月9日 - 2026年6月10日Bristol, UK
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French MOF2026年6月11日 - 2026年6月11日Versailles, France
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SAXS and WAXS Explained: Probing Structure Beyond Bragg Peaks2026年6月17日 - 2026年6月17日Webinar
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Physics of Magnetism 20262026年6月22日 - 2026年6月26日Poznan, Poland
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DSL-2026 Conference2026年6月22日 - 2026年6月26日Rhodes, Greece
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CEA Leti Innovation Days2026年6月23日 - 2026年6月25日Maison Minatec, Grenoble, France
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EPDIC 192026年6月23日 - 2026年6月26日Crans Montana, Switzerland
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Mineralogical Society at 150: Past Discoveries and Future Frontiers2026年6月23日 - 2026年6月25日Manchester, UK
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Polish Crystallographic Meeting + Olympic2026年6月24日 - 2026年6月26日Wroclaw, Poland
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UK Semiconductors Conference2026年7月1日 - 2026年7月2日Sheffield, UK
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The Advanced Materials Show2026年7月8日 - 2026年7月9日Birmingham, UK
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The International Workshop on Gallium Oxide and Related Materials (IWGO-6)2026年8月2日 - 2026年8月7日College Park, MD, USA.
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International workhop on Gallium Oxide 20262026年8月2日 - 2026年8月8日College Park, MD
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Denver X-ray Conference (DXC) 20262026年8月3日 - 2026年8月7日Lombard, IL, USA
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12th Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing (PRICM12)2026年8月9日 - 2026年8月13日Gold Coast Queensland, Australia
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27th Congress and General Assembly of the IUCr2026年8月11日 - 2026年8月18日Calgary, Alberta, Canada
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ACS Fall 20262026年8月23日 - 2026年8月27日Chicago, IL, USA
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63rd European High Pressure research Group Meeting in France2026年8月23日 - 2026年8月28日Montpellier, France
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36th International Conference on Diamond and Carbon Materials2026年8月30日 - 2026年9月3日San Sebastian, Spain
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SEMICON Taiwan 20262026年9月2日 - 2026年9月4日Taipei, Taiwan
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[MEET THE EXPERT] Implants 20262026年9月15日 - 2026年9月15日Solothurn, Switzerland
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XTOP 20262026年9月21日 - 2026年9月25日Karlsruhe, Germany
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ICSCRM Japan 2026 (Silver Sponsor)2026年9月27日 - 2026年10月2日Yokohama, Japan
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MS&T 20262026年10月4日 - 2026年10月7日Pittsburgh, PA, USA
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GSA 20262026年10月11日 - 2026年10月14日Denver, CO, USA
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Battery Show 20262026年10月12日 - 2026年10月15日Detroit, MI, USA
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SEMICON West 20262026年10月13日 - 2026年10月15日San Francisco, CA, USA
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Gulf Coast Conference (GCC) 20262026年10月13日 - 2026年10月15日Galveston, TX, USA
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AAPS PharmSci 360 - 20262026年10月25日 - 2026年10月28日New Orleans, LA, USA
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Conférence GDR MATEPI2026年11月2日 - 2026年11月6日Nice, France
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SERMACS 20262026年11月4日 - 2026年11月7日Memphis, TN, USA
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SEMICON Europa2026年11月10日 - 2026年11月13日Munich, Germany
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Eastern Analytical Symposium (EAS) 20262026年11月16日 - 2026年11月18日New Jersey
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German Epitaxy Workshop2026年11月25日 - 2026年11月27日Freiburg, Germany
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MRS Fall 20262026年11月29日 - 2026年12月4日Boston, MA, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20262026年12月8日 - 2026年12月11日Las Vegas, NV, USA
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SEMICON Japan 20262026年12月9日 - 2026年12月11日Tokyo, Japan
SmartLab 培训
即将举行的培训课程
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TitleDatesCostLocationNotesCourse outlineRegistration form
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SmartLab training (EMEA)2026年6月28日 - 2026年7月2日Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)2026年10月18日 - 2026年10月22日Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)2027年3月7日 - 2027年3月11日Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)2027年6月27日 - 2027年7月1日Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
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SmartLab training (EMEA)2027年10月17日 - 2027年10月21日Please contact ECOE@rigaku.comNeu-Isenburg, GermanySmartLab training (EMEA)
