地質学

EDXRFは、あらゆるタイプのサンプルの元素組成を迅速かつ高精度に分析できるコストパフォーマンスに優れたソリューションです。泥水検層、鉱物や炭化水素の探査、希土類元素(REE)の特性評価など、幅広い地質学的用途に対応します。

坑井現場でのドリルカッティング分析から、ラテライト粘土の希土類元素評価まで、EDXR分析装置なら多様な地質サンプルを簡単かつ正確に分析できます。岩石、鉱物、鉱石などの幅広い材料に対応し、微量元素の測定やマトリクス変動の影響を受けやすいサンプルでも、信頼性の高い分析結果 を提供します。

NEXシリーズ卓上型EDXRF元素分析装置による坑井現場での泥検層。

EDXRFを選ぶ理由

地質向けソリューション

基本的なスクリーニングから高度な分析まで、お客様のニーズやご予算に応じた多彩なソリューション をご用意しています。どのシステムも数分で元素組成データを提供し、高価な消耗品や頻繁なメンテナンスは不要です。

当社EDXRFの特長

  • 迅速かつ非破壊の元素分析 —— レスポンスが要求される生産現場で有効
  • 超低濃度からパーセントレベルまでの多元素分析
  • ナトリウム(Na)からウラン(U)までの幅広い元素測定
  • FP法によるスタンダードレス分析
  • 岩石、鉱物、堆積物、土壌など、多様なサンプルに対応
  • シンプルなサンプル前処理、複雑なセットアップ不要
  • 専門技術がなくても簡単に操作可能
  • 低コスト運用:消費電力も少なく、所有コストを削減
リガクNEXシリーズ卓上型EDXRF元素分析装置(NEX CG IIシリーズ、NEX DEシリーズ、NEX QCシリーズを含む)。

進化したファンダメンタルパラメーター(FP)ソフトウェア

EDXRF用FPソフトウェア RPF-SQXRigaku Profile Fitting – Spectra Quant X) は、リガクのプロファイルフィッティング技術を活用し、高度な定性・定量分析を実現します。標準試料なしでも半定量分析を行うことができ、標準試料を用いることで厳密な定量分析も可能です。

散乱線FP法により、測定困難な低原子番号元素の影響を推定し、適切に補正できます。また、濃度が既知のサンプルが1つでもあれば、迅速かつ簡単にマッチングライブラリを作成でき、半定量から高精度な定量分析へ移行できます。認証標準試料(CRM)は高価で、入手が困難な場合があります。RPF-SQXは検量線と比べ、必要な標準試料の数を大幅に削減でき、これにより所有コストの低減と作業負荷の軽減を実現します。

リガクRPF-SQX基本パラメータ-FP法。このソフトウェアを使用することで、必要な校正回数を大幅に減らすことができます。

応用例

当社のソリューションがお客様の分析ニーズに役立つかどうか、アプリケーション例をご覧ください。

坑井現場での泥検層。EDXRF App Note 1769 NEX QC+ QuantEZ - マッドロギングを読む。
EDXRF1769 NEX QC+ QuantEZ - マッドロギング
アプリケーションノートを読む >
粘土。EDXRF App Note 3134 NEX CG II+ - 粘土中の希土類元素の分析を読む。
EDXRF3134 NEX CG II+ - 粘土中の希土類元素の分析
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鉄を含む珪砂。EDXRFアプリノート1177 NEX QC - 珪砂中の酸化鉄をお読みください。
EDXRF1177 NEX QC - 珪砂中の酸化鉄
アプリケーションノートを読む >

その他の応用例

地質アプリケーション用ソリューション

ルーチン分析や迅速な抜き取り検査に最適 NEX QC および NEX QC+

原材料の定量分析において、コストパフォーマンスに優れた装置をお探しの方に最適です。タッチスクリーン操作と内蔵プリンターを備え、優れた操作性と利便性を実現しました。コンパクト設計で設置スペースを取らず、持ち運びも可能です。外部パソコンを必要とせず、単体での運用が可能です。

リガクNEX QCおよびNEX QC+卓上型EDXRF元素分析装置。

スタンダードレスFPが必要な場合 NEX QC+ QuantEZ

より性能がステップアップした、迅速かつ費用対効果の高い装置をお探しの場合に最適です。NEX QCシリーズの全機能に加え、半定量分析が可能なQuantEZソフトウェアが付属しています。このソフトウェアは操作を簡素化し、専用の分析アプリケーションを作成できるフローバーインターフェースを提供します。さらに、RPF-SQX(リガクプロファイルフィッティングを使用したファンダメンタルパラメータ法)も対応しています。

リガク NEX QC+ QuantEZ 卓上型EDXRF元素分析装置とデスクトップコンピュータ。

高性能・微小スポット分析用 NEX DEシリーズ

より高い分析スループット、微小スポット分析、さらには高精度分析を求められる場合に最適です。NEX DEシリーズは、元素のスクリーニング、定性・定量分析を迅速かつ正確に実行できるよう、高性能設計が施されています。また、リガク独自のファンダメンタル・パラメータ法に基づくプロファイルフィッティングを採用したRPF-SQXにより、定量分析の精度と信頼性がさらに向上しています。

リガクNEX DEシリーズ卓上型EDXRF元素分析装置とデスクトップコンピュータ。

複雑なアプリケーションに対応 NEX CG II シリーズ

高出力・高感度が求められる用途に最適なNEX CG II シリーズは、超微量元素の検出や、複雑なマトリックスを伴う高度なアプリケーションに対応する高性能な元素分析装置です。さらにリガク独自のファンダメンタルパラメータ法に基づくプロファイルフィッティングを用いたRPF-SQXおよび超軽元素のマトリックスを推測する散乱FP法を採用し、優れた定量精度と高い信頼性を実現します。

リガクNEX CG IIシリーズ卓上型EDXRF元素分析装置とデスクトップコンピュータ。

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