EDXRFに関するよくある質問

EDXRF（エネルギー分散型蛍光X線）は、低濃度ppmから高濃度パーセントまで、幅広いマトリックスの元素を迅速に定性・定量できる非破壊分析技術です。EDXRFの仕組みとその詳細については、「EDXRFとは？」をご覧ください。

EDXRFは非破壊分析技術であり、金属合金をはじめ、粉末、ポリマー、フィルター、薄膜、液体、油など、多様な材料の測定が可能です。生産管理や研究開発、環境分野など、さまざまな場面で元素分析に活用されています。

EDXRFは、迅速かつリアルタイムな情報を提供するため、工場や製造現場のアットラインだけでなく、工業や製造業の品質管理ラボでも広く使用されている一般的な元素分析機器です。

EDXRF分析装置の価格は、必要な機能や性能に応じて異なります。サンプルの種類、アプリケーション、分析目的によって最適なシステムが異なるため、価格も幅広く設定されています。弊社では、シンプルなスクリーニング向けのエントリーレベルモデルから、高度な研究・開発用途に適したハイエンドシステムまで、包括的なEDXRFソリューションを提供しています。お客様の特定のニーズに最適な装置選定をお手伝いいたしますので、お気軽にお問い合わせください。

EDXRFは、ICPやAASといった他の分析技術と比較して、試料調製が容易で、操作がシンプルであることに加え、ランニングコストや試料あたりのコストを抑えることができます。また、測定時間も短縮できるため、迅速な分析が求められる現場に最適です。

検出限界は、試料のマトリックス、前処理方法、試料全体の元素組成など、さまざまな要因に左右されます。お客様の分析ニーズに最適なソリューションをご提案いたしますので、お気軽にご相談ください。

蛍光X線分析（XRF）は比較法を用いるため、X線信号から直接濃度を算出することはできません。正確な測定を行うには、まず装置にX線が材料とどのように相互作用するかを「ティーチング」（校正）する必要があります。この校正（較正）では、濃度が既知の試料を測定し、基準データを確立することが不可欠です。
XRFの校正用標準器とは、この基準データを確立するために使用される特定の元素や濃度範囲を正確に含む標準試料（Certified Reference Materials: CRM）を含めた検量線（Calibration Curve）、FP感度等のことを指します。
未知の試料を測定する際には、得られたX線信号を校正データと比較し、濃度を算出します。正確な測定結果を得るためには、適切な標準器の選定と校正が重要です。
また、作成した検量線を長期間にわたって維持・管理するためには、X線的に安定な試料が必要です。こうした試料は「ドリフト試料」または「標準化試料」と呼ばれ、測定装置の長期的なドリフト（時間経過による変動）を補正し、定量分析の精度を維持する役割を果たします。
さらに、XRF装置には「MCA較正」、検出器のエネルギー軸を正確に補正するための校正、「ライブラリ較正」、スタンダードレスFP法に使用される感度の校正があります。これらの校正を適切に行うことで、より正確で信頼性の高い分析結果が得られます。

試料の種類や求められる分析性能によって、試料の準備方法は異なります。ほとんどの試料の場合、試料カップに数グラムの試料を入れるだけで測定が可能です。しかし、正確な分析結果を得るためには、試料が以下の条件を満たしていることが望まれます。
・均質であること：試料の組成が一様であることが重要です。特に粉末試料の場合、粒度のバラつきを抑えるために適切な前処理（粉砕や混合）を行うことが推奨されます。
・安定していること：測定中に形状や組成が変化しない試料が理想的です。
・平坦な表面を持っていること：XRF測定では、試料の表面状態が分析結果に影響を与えるため、試料の測定面（X線が照射される面）が平らで均一であることが求められます。試料処理の際に発生するコンタミネーションについても注意が必要です。
試料の状態が適切でない場合、測定精度が低下する可能性があるため、必要に応じて試料調製を行うことが重要です。

EDXRFの校正は、通常、年に1回程度です。この頻度は、装置の使用頻度や測定精度の要求に応じて調整されることがあります。定期的な校正により、装置の精度や信頼性を維持することができます。また、定期的なメンテナンスはほとんどありません。

リガクのEDXRFシステムは、放射線安全に関して非常に高い基準を満たしています。ユーザーマニュアルには、放射線安全に関する詳細なセクションがあり、利用者が安全に操作できるようにガイドラインが提供されています。また、各分析装置の製造・出荷時には放射線安全調査を実施しており、装置が適切にシールドされ、放射線漏れがないことが確認されています。
特に、X線発生源は光学系に含まれ、完全に遮蔽されています。これにより、通常の運転中に放射線が外部に漏れることはありません。また、すべてのリガクのEDXRFシステムにはインターロック機構が搭載されており、安全性がさらに強化されています。インターロック機構により、装置が誤って開放されることがなく、放射線が漏れる心配もありません。
さらに、通常操作時の装置から発生する放射線出力は、日常的に浴びるバックグラウンド放射線と比較して非常に低いレベルに抑えられています。例えば、ジェット機の飛行中や蛍光灯の光でも、放射線レベルはEDXRF装置の出力よりも高いことがあります。これにより、ユーザーの健康リスクが最小限に抑えられています。