Fortschrittliche & neue Materialien

Jeder Aspekt des modernen Lebens profitiert von der Beschichtungs- oder Dünnschichttechnologie. Ob bei der Analyse einer Sperrschicht in einem integrierten Schaltkreis oder einer Konversionsbeschichtung auf einer Aluminiumgetränkedose - röntgenanalytische Verfahren sind ein wesentlicher Bestandteil der Forschung und Entwicklung, der Produktionsprozesskontrolle und der Qualitätssicherung solcher Materialien. Zusammensetzung und Struktur von Beschichtungen, Dünnschichten, Multilayern, Materialien, Solarzellen, Batterien, Halbleitern, Nanomaterialien und vielen anderen Materialien können mittels Röntgenfluoreszenz (RFA) analysiert werden, um die Dicke und Elementzusammensetzung in der Messtechnik zu bestimmen. XRT (Röntgentopographie) kann zur Untersuchung kristalliner Defekte und Röntgenreflektometrie (XRR) zur Messung von Schichtdicken, Rauheit und Zwischenschichtdiffusion eingesetzt werden. Die Röntgendiffraktion (XRD) und damit verbundene Streumethoden wie SAXS untersuchen die molekulare Struktur von Filmen, Beschichtungen und Schichten oder Partikeln in der Biologie, Chemie, Physik und Technik und haben sich zu einem führenden Werkzeug für die Dünnschicht- und Nanotechnologieforschung entwickelt. Rigakus fortschrittliche Technologie und Erfahrung bieten eine Vielzahl von zerstörungsfreien und hochmodernen analytischen Lösungen und Dienstleistungen.