WDXRF是一种X射线分析技术，利用高功率 X 射线源激发样品中各元素产生特征（荧光）X 射线。
WDXRF 光谱仪的核心特点在于使用（实体）分析晶体来实现能量分辨。较高的能量分辨率可以最大程度地减小或消除谱峰重叠问题。
顺序式光谱仪通过自动调节分析晶体和 X 射线光学系统，一次测量一个目标元素。顺序式光谱仪在过程研发以及低产量、多品种的制造环境中具有较高的分析灵活性，此类场景中通常对测量通量要求不高。
同时式光谱仪则配置有多个专用测量通道，用于在高产量制造环境中最大化测量通量，适用于目标元素组成变化不频繁的应用场景。
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