单晶是现代高技术产业核心基础材料：其电子特性对半导体工业至关重要，磁学特性决定了磁性存储设备的性能，而力学与化学特性则推动着材料科学的不断发展。值得注意的是，单晶的性能不仅取决于其晶体种类与质量，更与晶体取向密切相关。因此，晶体取向的精确测定成为单晶技术应用的关键环节，而X射线衍射技术已发展成为该领域的标准化表征手段。
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