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ZSX Primus IVi 概览
用于分析液体的真空（分区）系统
光谱仪腔体 始终维持真空状态，真空环境到氦气环境的切换时间只需不到两分钟相较于需同时对腔室进行吹扫 的型号，这款仪器显著降低了氦气消耗量。
提高分析通量
优化的机械结构最大限度地减少了分析死时间。以16 元素顺序 定量分析为例，测量时间从 348 秒缩短到 287 秒，效率提高了 18%。
D-MCA 高速分析系统
数字多通道分析仪（D-MCA）系统可进行高速数字处理，实现高计数率，从而提高分析精度和检测通量。
光学系统不易受样品表面不平整的影响
样品表面不平整会导致样品与 X 射线管之间的距离发生变化，进而引起X 射线强度的变化。理学光学系统可以抑制距离变化引起的 X 射线强度变化，最大限度地降低粉末样品压片表面不平整所造成的影响，从而实现准确的分析。
定点扫描/面扫描分析
配备高分辨率摄像系统，支持微区特征放大识别与分析。通过消除测量位置差异造成的灵敏度变化，实现精确分析。卓越的设计利用光管焦斑特性，最大限度地提高强度/灵敏度。
升级的 SQX 分析
SQX 分析是无标样基本参数法分析软件，可精确计算元素组成。其易用性现已得到进一步提升。
自动中心线清洁机制
F-PC 检测器中心线会因气体污染而逐渐降低分辨率。中心线清洁机制可通过电加热消除中心线污染，无需断电或开启机箱即可恢复性能。
ZSX Primus IVi 功能
ZSX Primus IVi 视频
ZSX Primus IVi 技术规格
| 技术原理 | 波长色散 X 射线荧光光谱（WDXRF） | |
|---|---|---|
| 核心应用 | 固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析 | |
| 仪器类型 | 上照式扫描型 WDXRF | |
| 标准配置 | 端窗型Rh靶3kW或4kW，最多60位自动进样器，铍(Be)至锔(Cm)元素分析能力，真空系统 | |
| 可选配置 | 氦气置换系统 附加分析晶体 r-θ 极坐标样品台/面扫描功能 |
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| 控制系统 | 外置PC、MS Windows 操作系统、ZSX 软件 | |
| 尺寸 | 840（宽）×1440（高）×980（深）mm | |
| 质量 | 约 600 千克（核心部件） | |
| 电源要求 | 三相200/208 V 40 A 50/60 Hz | |
ZSX Primus IVi 应用说明
以下应用说明与本产品相关
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XRF1131 - Standardless FP Analysis of Lithium-ion Battery Cathode Material LiFePO₄ by ZSX Primus IV
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BATT0004 - Chemical Composition Analysis of NMC Cathode
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BATT0001 - Battery Material Development
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WDXRF1099 - Trace Element Analysis in Geological Samples by the Pressed Powder Method, using GEO-TRACE-PAK
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WDXRF1085 - Trace Element Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
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WDXRF1102 - Standardless FP Analysis of Plant, Animal and Food Samples Applying Correction by Scattering Line
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WDXRF1084 - Mapping and Small Spot Analysis with a General-Purpose XRF Spectrometer
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WDXRF1105 - Lubricating Oil Analysis by WDXRF According to ASTM D6443-14
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WDXRF1117 - Lead Analysis in Gasoline — ASTM D5059-21 — using WDXRF ZSX Primus IV𝒾
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WDXRF1101 - Fused Bead Analysis for Refractories using Application Package Refractory Series
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WDXRF1100 - Fused Bead Analysis for Wide Concentration Ranges of Various Oxide Materials using OXIDE-FB-PAK
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WDXRF1092 - Fixed Angle Measurement using the Semi-Quantitative Analysis Function SQX of ZSX Guidance Software
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WDXRF1086 - Boron and Fluorine Quantitative Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
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WDXRF1091 - Beryllium Analysis in Beryllium Copper Alloy using ZSX Primus IV with RX85
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WDXRF1109 - Automatic Quant Application Setup Applied to Calibrating Coal Fly Ash Fused Beads
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WDXRF1104 - Analysis of S, Fe, Ni and V in Residual Oil According to IP610/13
ZSX Primus IVi 资源
波长色散 X 射线荧光光谱仪 ZSX Primus IViZSX Primus IVi 活动
在以下活动中了解更多我们的产品
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活动日期地点活动网站
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3rd Global CemCCUS Conference, Exhibition2026年6月9日 - 2026年6月10日Hamburg, Germany
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Green Cement Day2026年7月1日 - 2026年7月1日Haan, Germany
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Denver X-ray Conference (DXC) 20262026年8月3日 - 2026年8月7日Lombard, IL, USA
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12th Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing (PRICM12)2026年8月9日 - 2026年8月13日Gold Coast Queensland, Australia
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Quantitative Analysis with XRF: Mining Applications2026年8月17日 - 2026年8月17日Webinar
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ACS Fall 20262026年8月23日 - 2026年8月27日Chicago, IL, USA
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MS&T 20262026年10月4日 - 2026年10月7日Pittsburgh, PA, USA
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GSA 20262026年10月11日 - 2026年10月14日Denver, CO, USA
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Gulf Coast Conference (GCC) 20262026年10月13日 - 2026年10月15日Galveston, TX, USA
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AAPS PharmSci 360 - 20262026年10月25日 - 2026年10月28日New Orleans, LA, USA
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SERMACS 20262026年11月4日 - 2026年11月7日Memphis, TN, USA
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Eastern Analytical Symposium (EAS) 20262026年11月16日 - 2026年11月18日New Jersey
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MRS Fall 20262026年11月29日 - 2026年12月4日Boston, MA, USA
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Advanced Automotive Battery Conf 20262026年12月8日 - 2026年12月11日Las Vegas, NV, USA
