ZSX Primus III NEXT 概览
适合工业应用
ZSX Primus III NEXT 是任何需要元素分析的工业应用的理想工具，例如。
・矿产和采矿・金属
・水泥
・陶瓷和耐火材料
・玻璃制造
・石油化工
・化学品
・环境
应用包
可提供针对特定行业的应用包。出货时存储校准曲线的 “预校准包”、包含标准样品和分析条件的 “校准包” 以及用于无标样分析的 “灵敏度系数库”（SQX）可帮助用户启动分析操作。
轻松共享应用程序
ZSX Primus III NEXT、ZSX Primus IV 和 ZSX Primus IVi 共享相同的硬件和软件平台，使光谱仪之间可以轻松共享应用程序。
提高分析结果的质量
对每个分析结果都充满信心。测量统计数据和光谱仪物理参数可与每个分析结果一起显示，便于发现异常。
ZSX Primus III NEXT--您在高要求工业环境中实现快速可靠生产控制的理想合作伙伴。
ZSX Primus III NEXT 功能
ZSX Primus III NEXT 技术规格
| 分析范围 | ₈O - ₉₆Cm 标准（₄Be - ₉₆Cm 可选 - 视晶体配置而定） | |
|---|---|---|
| 光谱法 | 波长色散 X 射线荧光 | |
| 氛围 | 真空 | |
| X射线管 | 端窗类型 Rh 材质 3 千瓦 | |
| 辐照法 | X射线管上方配置 | |
| 样品更换器 | 多达 48 个位置的可扩展样品更换器 | |
| 最大样本尺寸 | φ 52 毫米 × 30 毫米（高） | |
| 滤光片 | Ni400、Ni40、Al125、Al25 | |
| 准直器 | 3 位自动交换机 标准缝隙和精细缝隙 可选项超轻元件狭缝 |
|
| 分析晶体 | 标配: LiF（200）, PET, RX26, 锗晶体 | |
| 脉冲高度分析器 | 数字多道分析器（DMCA） | |
| 探测器 | 闪烁计数器（SC）流气正比计数器（F-PC）可选：密封式正比计数器（S-PC LE），无需P-10气体 | |
| 电源要求 | 仪器：单相（200-240V）或三相（200V），50/60 Hz，40A 计算机：单相，100-240V，10A | |
ZSX Primus III NEXT 应用说明
以下应用说明与本产品相关
-
XRF1131 - Standardless FP Analysis of Lithium-ion Battery Cathode Material LiFePO₄ by ZSX Primus IV
-
BATT0004 - Chemical Composition Analysis of NMC Cathode
-
BATT0001 - Battery Material Development
-
WDXRF1126 - Accurate Quantitative Analysis of Ferrosilicon by the Fusion Method using ZSX Primus III NEXT
-
WDXRF1124 - Quantitative Analysis of Blast Furnace Slag by Fusion Method on the ZSX Primus III NEXT
-
WDXRF1121 - Quantitative Analysis of Cast Iron using ZSX Primus III NEXT
-
WDXRF1123 - Quantitative Analysis of Stainless Steel using the ZSX Primus III NEXT
-
WDXRF1122 - Silicate Rock Analysis by Fusion Bead Method on ZSX Primus III NEXT
-
WDXRF1120 - Quantitative Analysis of Low Alloy Steel using the ZSX Primus III NEXT
-
WDXRF1119 - Cement Raw Meal Analysis by Pressed Powder Method on the ZSX Primus III NEXT
-
WDXRF1099 - Trace Element Analysis in Geological Samples by the Pressed Powder Method, using GEO-TRACE-PAK
-
WDXRF1085 - Trace Element Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
-
WDXRF1071 - Semi-quantitative FP Analysis of Geological Samples
-
WDXRF1118 - Quality and Process Control Analysis of Natural and Processed Iron Ores by the Pressed Powder Method
-
WDXRF1101 - Fused Bead Analysis for Refractories using Application Package Refractory Series
-
WDXRF1100 - Fused Bead Analysis for Wide Concentration Ranges of Various Oxide Materials using OXIDE-FB-PAK
-
WDXRF1092 - Fixed Angle Measurement using the Semi-Quantitative Analysis Function SQX of ZSX Guidance Software
-
WDXRF1066 - Determination of Chemical Composition of Nickel Laterite Ore by Fusion Method
-
WDXRF1086 - Boron and Fluorine Quantitative Analysis for Water Solution by Micro-droplet Method using Ultra Carry Filter Paper
-
WDXRF1089 - Analysis of Hazardous Heavy Elements in Soil and Sediment using ZSX Primus IV
ZSX Primus III NEXT 资源
波长色散 X 射线荧光光谱仪 - ZSX Primus III NEXTZSX Primus III NEXT 活动
在以下活动中了解更多我们的产品
-
活动日期地点活动网站
-
3rd Global CemCCUS Conference, Exhibition2026年6月9日 - 2026年6月10日Hamburg, Germany
-
Green Cement Day2026年7月1日 - 2026年7月1日Haan, Germany
-
Denver X-ray Conference (DXC) 20262026年8月3日 - 2026年8月7日Lombard, IL, USA
-
12th Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing (PRICM12)2026年8月9日 - 2026年8月13日Gold Coast Queensland, Australia
-
Quantitative Analysis with XRF: Mining Applications2026年8月17日 - 2026年8月17日Webinar
-
ACS Fall 20262026年8月23日 - 2026年8月27日Chicago, IL, USA
-
MS&T 20262026年10月4日 - 2026年10月7日Pittsburgh, PA, USA
-
GSA 20262026年10月11日 - 2026年10月14日Denver, CO, USA
-
Gulf Coast Conference (GCC) 20262026年10月13日 - 2026年10月15日Galveston, TX, USA
-
AAPS PharmSci 360 - 20262026年10月25日 - 2026年10月28日New Orleans, LA, USA
-
SERMACS 20262026年11月4日 - 2026年11月7日Memphis, TN, USA
-
Eastern Analytical Symposium (EAS) 20262026年11月16日 - 2026年11月18日New Jersey
-
MRS Fall 20262026年11月29日 - 2026年12月4日Boston, MA, USA
-
Advanced Automotive Battery Conf 20262026年12月8日 - 2026年12月11日Las Vegas, NV, USA
