小角 X 射线散射（SAXS）是胶体/纳米尺度结构表征的核心技术：通过将低发散度的 X 射线束聚焦于样品，利用内部电子密度差异所产生的相干散射信号进行解析。
由于需要分析的结构尺寸远大于所使用的 X 射线波长（如铜辐射为 1.54 Å）。因此，仅需在小角度范围内进行测量，即可解析从几十 Å 至数千 Å 的结构尺寸。利用粒度尺寸与散射角之间的反比关系来分析角度范围或散射图样，可以解析出样品中的形貌与尺寸特征。
搭载引导专家系统软件的高分辨率X射线衍射系统
专为纳米结构分析设计的小型广角 X 射线散射仪
专为小角 X 射线散射仪设计的特殊CMF 光学器件
赛诺普（Xenocs）基于 SAXS/WAXS 的解决方案已广泛应用于纳米尺度结构表征和相关研究领域。
探索成功应用案例，甄选最佳分析技术
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