什么是 X 射线荧光 (XRF)？
几乎可测量任何基体中的几乎所有元素
X 射线荧光（XRF）是用于测定多种材料元素组成的分析方法之一，具有操作简便、准确性高且成本经济等优点。作为研发（R&D）和质量保证（QA）中不可或缺的分析手段，Rigaku 先进且独特的 WDXRF 产品被广泛用于从水泥、塑料到金属、食品以及半导体晶圆等各类产品的分析。Rigaku 的产品覆盖范围广泛，从面向高要求应用的高功率、高性能波长色散型 WDXRF 系统，到完整系列的台式 EDXRF 和 WDXRF 系统。
X 射线荧光原理
在 XRF 中，当原子吸收能量足够高的光波（光子）时，原子轨道中的电子可能被击出。光子的能量（hν）必须大于电子与原子核之间的结合能。当原子内层轨道的电子被击出后（中间示意图），来自更高能级轨道的电子会跃迁到较低能级轨道。在这一跃迁过程中，原子可能会发射出一个光子（最右侧示意图）。
这种荧光辐射称为该元素的特征X射线。
所发射光子的能量等于发生跃迁的两个电子轨道之间的能量差。由于在同一元素中，特定电子轨道壳层之间的能量差始终是固定的（即具有元素特征性），因此电子在这两个能级之间跃迁时所发射的光子始终具有相同的能量。由此，通过测定某一元素所发射 X 射线光（光子）的能量（或波长），即可确定该元素的种类。
