SmartLab
全自動多目的X線回折装置
装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を搭載した多目的X線回折装置
SmartLabは、幅広い分析手法や各種材料に最適な測定テクニックを知り尽くしたリガクの測定スペシャリストが、そのノウハウをパッケージ化することに成功し、業界ではじめて装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を実現した装置です。膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、従来難しかった薄膜材料の測定を、専門的な知識がなくとも可能にしました。



SmartLab 概要
ガイダンス機能
リガクの分析ノウハウを凝縮した SmartLab Studio II ソフトウェアが、各アプリケーションに最適な光学系ユニットの選択から、測定条件の設定・実行までの測定シーケンスを自動的に設定します。
ハイパフォーマンスX線源 PhotonMax
出力9kWのファインフォーカスX線源です。新メカニカルシールを採用し、ターゲットのライフタイムが大幅に改善されました。
ハイブリッドピクセルアレイ検出器 HyPix-3000
優れたエネルギー分解能がバックグラウンドノイズの抑制に大きく貢献します。2次元検出器としてだけでなく、1次元検出器や0次元検出器としても使用できます。
長期保証(日本国内)
高機能なX線回折装置を使いたいが、メンテナンスコストが心配というお客様の声にお応えして、安心の長期保証をご提案いたします。
PhotonMax:3年または10,000時間保証
HyPix-3000:5年保証
ゴニオメーター:10年保証
CBOファミリー
リガクの特許技術であるCross Beam Optics(CBO)を標準装備し、各種基本光学系の切り換え操作をシンプルにしました。
各種ビーム形状に対応するCBOシリーズにより、発散ビーム・平行ビーム・集光ビームの切り換えが容易です。
多彩な薄膜評価手法を身近に
サンプルの設計膜厚や予想される結晶性などを入力するだけで、そのサンプルに最適な測定手順が設定されます。
対応薄膜評価アプリケーション:組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価、膜厚分析、界面ラフネス分析、密度分析、面内均一性評価など
小角散乱測定をシンプルに
MRSAXSプラグインを用いて、小角散乱データの詳細な解析が簡単にできます。
対応各種小角散乱アプリケーション:液体分散ナノ粒子の粒径分布解析、薄膜またはバルク中ナノ粒子/空孔のサイズ分布解析、ナノ粒子/空孔の形状評価、不規則な電子密度分布の相関関数解析など
粉末解析を簡単に
SmartLabはサンプル情報に基づいて測定光学系を提案し、光学素子の設定、測定条件の設定、そしてデータ測定までの一連のプロセスを、ユーザーフレンドリなダイアログを通じて支援します。
各種粉末アプリケーション:定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など
ユニット交換作業の簡素化
接触型コネクタ方式採用により、測定目的に応じてユニットを交換する際に、ケーブル類の抜き差しや電源OFFの必要がありません。どなたでも試料交換や光学系交換が容易に行えます。
人間工学に基づいた装置デザイン
背の高い人にも頭部に圧迫感を与えず自然な操作性を確保しました。また、起立、着座にかかわらず測定室の中を確認できるよう、それぞれの視線に合わせた6面の窓の位置設定により、視認性を向上させました。
SmartLab 特長
SmartLab 仕様
製品名 | SmartLab | |
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手法 | X線回折(XRD) | |
用途 | 粉末回折、薄膜評価、結晶性評価、残留応力評価、SAXS、インプレーン回折 | |
テクノロジー | 全自動 高分解能 θ-θ 多目的X線回折装置(XRD)、ガイダンスソフトウェア | |
主要コンポーネント | 3 kW封入型X線管またはPhotonMax⾼フラックス9 kW回転対陰極X線発⽣装置、CBO光学系、高エネルギー分解能2D ハイブリッドピクセルアレイ検出器 HyPix-3000 | |
オプション | インプレーンアーム(5軸ゴニオメーター)、他 | |
制御(PC) | 外部PC、MS Windows® OS、SmartLab Studio IIソフトウェア | |
本体寸法 | 1300 (W) x 1880 (H) x 1300 (D) mm | |
重量(本体) | 約 750 kg(3kW封入管タイプ)、850 kg(9kWタイプ) | |
電源 | 単相 200-230 V 50/60 Hz, 40 A または 三相 200 V 50/60 Hz, 30 A(3kW封入管タイプ) 三相 200 V 50/60 Hz, 60 A (9kWタイプ) |
SmartLab オプション
以下のアクセサリーが、この製品で使用できます。
SmartLab アプリケーションノート
以下のアプリケーションノートはこの製品に関連しています。
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BATT1018 - ラミネートセルを用いた温調-充放電-XRD測定
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BATT1017 - 全固体電池セルを用いた充放電-XRD測定
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BATT1016 - ラミネートセル型電池を用いたオペランド測定
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BATT1015 - 全固体電解質Li3PS4の局所構造解析
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BATT1012 - BVS法を用いた価数とリチウムイオン拡散経路の推定
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BATT1011 - 高エネルギー分解能検出器XSPA-400 ERを用いた 正極材NCMの測定
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BATT1010 - 正極材NCM焼成時の相変化挙動の調査
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PHRM0002 - 医薬品のためのin-situ同時DSC-湿度-粉末X線回折測定
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BATT0003 - 電池評価
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BATT0002 - 電池材料評価
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BATT0001 - 電池材料開発
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XRD1008 - X線回折装置による鉄鋼材料の 定性・定量分析と残留応力解析
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XRD1007 - X線回折装置による耐火物結晶相の Rietveld 定量分析
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XRD1006 - X線回折装置による高分子の配向評価
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XRD1004 - 粉末X線回折法による高分子の評価
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B-XRD2036 - 高速逆格子マップによるIII-V 族窒化物薄膜の 結晶方位の乱れた成分の検出
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B-XRD2035 - III-V 族窒化物薄膜のチルト幅・ツイスト幅の 試料面内分布評価
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B-XRD2033 - 反射X線トポグラフィによる シリコンカーバイド単結晶基板の転位観察
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B-XRD2008 - X線回折装置による強誘電体薄膜の配向評価
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B-XRD2004 - X線回折装置による反射小角X線散乱法を用いた Low-k 膜の空孔サイズ分布の評価
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B-XRD1155 - シームレス多次元ピクセル検出器を用いた電池正極材料中の微量成分検出
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B-XRD1154 - フィルム垂直透過X線回折法による医薬品の配向抑制測定
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B-XRD1153 - 2次元検出器を用いた XRD-DSC 同時測定によるアセトアミノフェンの相転移追跡
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B-XRD1151 - XRD-DSC 同時測定によるスタチン系薬の 結晶相変化の観察
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B-XRD1148 - クラスター解析による三元系正極材の組成比分別
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B-XRD1145 - 気密試料ホルダーを用いた吸湿性製剤の測定
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B-XRD1144 - X線回折装置による銀メンブレンフィルターを用いた遊離ケイ酸の検量線作成
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B-XRD1130 - DD法®によるでんぷんの定量分析
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B-XRD1092 - X線回折装置による油脂の結晶化過程観察
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B-XRD1079 - X線回折装置によるキャピラリー温調アタッチメントを用いた 高温結晶相の未知構造解析
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B-XRD1077 - X線回折装置によるセラミックスの焼成過程の観測
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B-XRD1068 - X線回折装置MiniFlex300/600 による 建材中のアスベストの測定
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B-XRD1067 - X線回折装置による気密試料ホルダーを用いた吸湿性粘土鉱物の測定
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B-XRD1066 - X線回折装置による気密試料ホルダーを用いた潮解性材料の測定
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B-XRD1062 - X線回折装置による赤外線加熱高温装置を用いたシリサイド粉末の格子定数変化の観察
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B-XRD1061 - デスクトップX線回折装置を用いた鉄鉱石の結晶相同定
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B-XRD1029 - 2 次元小角X 線散乱法による リン脂質膜の結晶相転移観察
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B-XRD1024 - X線回折装置による高分子フィルムの結晶方位解析
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B-TA1034 - アセトアミノフェンの熱挙動
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B-XRD1143 - FP法で求めた結晶子サイズの妥当性の検証
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B-XRD1129 - TG-DTAとXRD-DSCを用いた 原薬の脱水挙動の観察
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B-XRD2034 - ロッキングカーブ測定による III-V族窒化物薄膜のツイスト幅評価
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B-XRD1109 - PDF解析による強誘電体ナノ粒子の結晶構造評価
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B-XRD1131 - PDF解析によるゼオライトの構造評価
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B-XRD1136 - 電子密度解析によるゼオライトの構造評価
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B-XRD1112 - PDF解析によるシリカガラスの構造評価
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B-XRD1123 - 透過X線回折測定によるラミネートセルの 正極材と負極材の同時オペランド測定
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B-XRD1080 - Mo線源を用いた リチウムイオン電池材料のリートベルト解析
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B-XRD1118 - 2次元検出器を用いた 金属材料の高速極点測定
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B-XRD1119 - ポリマーフィルムの配向係数を用いた材料評価
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B-XRD1120 - DD法®による医薬品原薬の定量分析
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B-XRD1115 - DD法®によるγ-アルミナの定量分析
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B-XRD1132 - DD法®によるガラスの定量分析
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B-XRD1142 - DD法®による結晶多形の定量分析
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B-XRD1001 - WPPF法による混合試料の定量分析
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B-XRD1111 - DD(Direct Derivation)法®による 3成分試料の定量分析
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B-XRD1125 - DD法®による食塩の味の数値化
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B-XRD1146 - 参照強度比を基準にするリートベルト解析に よる高炉セメント中の高炉スラグの定量分析
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B-XRD1002 - RIR法による混合試料の定量分析
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B-XRD1043 - 高分解能集光ビーム光学系を用いた 低分子医薬品材料の未知構造解析
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B-XRD1121 - リアルタイム解析による混合粉末の結晶相同定
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B-XRD2023 - 2次元検出器を用いた微小角入射広角X線 散乱法による有機薄膜の結晶相同定
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B-XRD1103 - 2次元回折像を利用した 鉱物粉末中の微量粗大粒子の結晶相同定
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B-XRD2020 - 2次元検出器を用いた固体酸化物型 燃料電池材料の結晶相・配向状態評価
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B-XRD1137 - 微小部X線回折測定による 錠剤表面に付着した微小不純物の結晶相同定
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B-XRD1021 - 湿度雰囲気下でのXRD-DSC同時測定による 原薬の転移挙動の観察
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B-XRD1110 - 超小角X線散乱法による 強誘電体ナノ粒子の粒径評価
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B-XRD1102 - 超小角X線散乱法による顔料インクの粒径分布解析
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B-XRD1030 - 小角X線散乱法による 金属ナノ粒子の粒径分布評価
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B-XRD2009 - インプレーンX線回折法による 単結晶基板上の有機薄膜の結晶方位評価
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B-XRD2005 - インプレーンX線回折法によるラビング処理ガラス基板上の有機薄膜の結晶方位評価
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B-XRD1124 - Ag線源を用いた 全固体リチウムイオン電池の透過X線回折測定
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B-XRD1116 - 2次元検出器を用いた ラミネート型リチウムイオン電池のオペランド測定
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B-XRD2028 - インプレーン軸を使用した極点測定による シリサイド薄膜の特殊な繊維配向状態の解析
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B-XRD2032 - 2次元検出器を用いた微小角入射広角X線散乱法によるポリプロピレン製品の配向状態評価
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B-XRD1020 - 湿度雰囲気下でのXRD-DSC同時測定による 水和物の脱水挙動の観察
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B-XRD1128 - TG-DTAとXRD-DSCを用いた原薬の脱水挙動の観察
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B-XRD1026 - 低温領域でのXRD-DSC測定による イオン液体の結晶化挙動の観察
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B-XRD1135 - XRD-DSC測定によるバターの結晶構造の観察
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B-XRD1117 - 高温昇温・特殊ガス雰囲気下における 結晶相変化のその場観察
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B-XRD1089 - 電子基板の微小領域マッピング測定
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B-XRD1023 - 透過X線回折法による 錠剤中の多形不純物の定量分析
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B-XRD1063 - 反射・透過X線回折測定による 高分子フィルムの配向状態の観察
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B-XRD1107 - PDF解析及びRDF解析による材料評価
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B-XRD2003 - インプレーンX線回折法による 磁性薄膜の結晶系評価
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B-XRD1114 - DD法®による原薬の微量不純物の定量下限
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XRD1003 - 固体医薬品の評価法③ ~水和物について調べる~
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XRD1002 - 固体医薬品の評価法② ~非晶質の有無を調べる~
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XRD1001 - 固体医薬品の評価法① ~原薬の結晶形の種類を調べる~ (結晶多形の存在が既知の場合のアプローチ)
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B-XRD1105 - 2次元検出器を用いた 金属融解挙動の高速時分割測定
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B-XRD1147 - リートベルト解析によるクリンカー鉱物の 結晶多形の高精度な定量分析
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B-XRD2021 - 1次元検出器モードを用いた SiGeエピタキシャル薄膜の高速逆格子マップ測定
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B-XRD2024 - 1次元検出器モードを用いた III族窒化物薄膜の高速逆格子マップ測定
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B-XRD2007 - インプレーンX線回折法による 有機薄膜の結晶成長過程の考察
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B-XRD2030 - X線反射率法による 金属薄膜の膜厚の面内均一性評価
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B-XRD2027 - ロッキングカーブ測定による 単結晶基板の結晶方位の面内均一性評価
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B-XRD1122 - X線回折法によるう蝕歯の結晶状態の評価
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B-XRD3005 - Multiple hkl法による薄膜の残留応力評価
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B-XRD1113 - BVS法によるイオン価数の評価
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B-XRD1150 - X線回折法による リチウムイオン電池カーボン負極材料の黒鉛化度評価
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B-XRD1104 - 2次元回折像を利用した 超硬材の粒子状態と配向状態の確認
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B-XRD2031 - ロッキングカーブによる単結晶基板の反り評価
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B-XRD1078 - 水素ガス雰囲気下での燃料電池材料の 結晶子サイズと粒径分布の評価
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B-XRD2001 - ロッキングカーブ測定によるIII族窒化物薄膜の 結晶性(チルト・ツイスト)評価
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B-XRD1149 - Rietveld解析による チタン酸バリウムの結晶多形評価
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B-XRD1108 - 多データ高速処理と2次元検出器を用いた 生クリームの融解・結晶化過程の観察
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B-XRD1126 - XRD-DSC同時測定によるチョコレートの結晶構造観察
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B-XRD1018 - FP法による光触媒材料の結晶子サイズ分布解析
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B-XRD1071 - シェラー法による触媒材料の結晶子サイズ解析
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B-XRD1035 - リートベルト法による医薬品共結晶の粉末結晶構造解析および不純物の定量分析
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B-XRD1046 - 凍結乾燥プロセスにおける 医薬品材料の結晶相同定
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B-XRD1044 - 微小部2次元X線回折測定による 超硬チップの結晶相同定
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B-XRD2006 - インプレーン逆格子マップによるエピタキシャル膜および極薄バッファー層の結晶方位評価
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B-XRD1014 - 極点測定による圧延板の結晶方位解析
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B-XRD2022 - X線反射トポグラフィーによる 単結晶基板の結晶欠陥観察
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B-XRD1009 - 電池セルアタッチメントを用いた リチウムイオン電池正極材料の充放電に伴う 構造変化のその場観察
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B-XRD1106 - 2次元検出器を用いたリチウムイオン電池正極材のオペランド測定
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B-XRD1139 - PDF解析によるフタロシアニン銅の分子積層間隔の算出
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B-XRD2026 - 広域逆格子マップによる 面内異方性基板上のエピタキシャル膜の評価
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B-XRD1141 - X 線回折法によるセメント水和反応の経時変化観察
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B-XRD1140 - リートベルト法によるセメント試料の正確で高精度な定量分析
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B-XRD1011 - 平行ビーム光学系と赤外線加熱高温装置を用いた 格子定数の温度依存性評価
SmartLab イベント
