RoHS/WEEE

EDXRFは、あらゆる試料形態でも元素組成を迅速かつ信頼性高く、省メンテナンスな装置です。さまざまな試料や材料の元素濃度を迅速に測定できるため、RoHS指令やWEEE指令などの国際規制への適合を保証するために広く利用されています。

RoHS指令は、プラスチックやその他の材料に含まれるクロム(Cr)、水銀(Hg)、鉛(Pb)、臭素(Br)、カドミウム(Cd)などの有害元素の許容濃度を制限しています。EDXRFは、迅速なスクリーニング分析を実現し、RoHS規範に準拠した有害元素の定量が可能な分析技術として広く認められています。この技術の汎用性とスピードは、製品の安全性を確保し、RoHSやその他の同様の規制を遵守しようとする業界にとって不可欠です。

当社の装置がどのようにお役に立てるか、詳しくはこちらをご覧ください。

リガクNEXシリーズ卓上型EDXRF元素分析装置によるRoHS指令サイン。これらの製品は、RoHS指令に準拠した有害元素のスクリーニングに使用されます。

RoHSおよびWEEEにEDXRFを選ぶ理由

ベンチトップ装置

EDXRFは、非破壊で対象試料を迅速に元素分析できるため、材料や製品の品質管理に最適です。スクリーニング分析から高度なアプリケーションまで、ニーズに合わせて予算に応じたベンチトップ装置をご用意しています。どのシステムも数分で元素組成データを提供し、省メンテナンスで運用できます。

以下は、当社の装置の利点の一部です。

  • 迅速で非破壊的な元素分析が可能で、迅速さが求められる生産現場に適しています
  • 低濃度からパーセントレベルまでの多元素機能を提供
  • ナトリウム(Na)からウラン(U)までの全元素を測定可能
  • ポリマー、金属、合金を含む多用途性
  • 試料前処理が簡単で、複雑なセットアップは不要
  • 技術者でなくても簡単に操作可能
  • 低所有コスト、省メンテナンス
リガクNEXシリーズ卓上型EDXRF元素分析装置(NEX CG IIシリーズ、NEX DEシリーズ、NEX QCシリーズを含む)。

進化したファンダメンタルパラメーター(FP)ソフトウェア

EDXRF用FPソフトウェア RPF-SQXRigaku Profile Fitting – Spectra Quant X) は、リガクのプロファイルフィッティング技術を活用し、高度な定性・定量分析を実現します。標準試料なしでも半定量分析を行うことができ、標準試料を用いることで厳密な定量分析も可能です。

散乱線FP法により、測定困難な低原子番号元素の影響を推定し、適切に補正できます。また、濃度が既知のサンプルが1つでもあれば、迅速かつ簡単にマッチングライブラリを作成でき、半定量から高精度な定量分析へ移行できます。認証標準試料(CRM)は高価で、入手が困難な場合があります。RPF-SQXは検量線と比べ、必要な標準試料の数を大幅に削減でき、これにより所有コストの低減と作業負荷の軽減を実現します。

リガクRPF-SQX基本パラメータ-FP法。このソフトウェアを使用することで、必要な校正回数を大幅に減らすことができます。

応用例

当社のソリューションが、お客様のニーズにどのように役立つかを理解するために、以下のアプリケーション例をご覧ください。

鉛を含む電子機器EDXRF App Note 1550 - NEX DE VS - 鉛フリーはんだをお読みください。
EDXRF1550 NEX DE VS - 鉛フリーはんだ
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RoHS。EDXRF App Note 1602 - NEX DE VS - Empirical MethodによるRoHS PEをお読みください。
EDXRF1602 NEX DE VS - 経験法によるRoHS PE
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RoHS。EDXRF App Note 1803 - NEX DE VS - RoHS PE-Pak Rapid Screening by XRFをお読みください。
EDXRF1803 NEX DE VS - RoHS PE-Pak XRFによる高速スクリーニング
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RoHS。EDXRF App Note 1807 - NEX DE VS - RoHS鉛フリーはんだパックのXRFによる迅速スクリーニングをお読みください。
EDXRF1807 NEX DE VS - RoHS鉛フリーはんだパックのXRFによる高速スクリーニング
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RoHS。EDXRF App Note 1844 - NEX DE VS - RoHS Metals-Pak Rapid Screening by XRFをお読みください。
EDXRF1844 NEX DE VS - RoHS METALS-PAK XRFによる迅速スクリーニング
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RoHSおよびWEEE対応ソリューション

ルーチン分析または迅速な抜き取り検査 NEX QC / NEX QC+

NEX QCシリーズは、原材料の元素組成を正確かつ迅速に同定・定量できる手頃なソリューションです。タッチスクリーン操作と内蔵プリンターを備えており、直感的に使用できるため、特別な専門知識がなくても簡単に分析を行うことができます。また、コンパクトな設計により設置スペースを最小限に抑えつつ、持ち運びも可能であり、外部パソコンを必要とせずに単独で動作するため、柔軟な運用が可能です。

リガクNEX QCおよびNEX QC+卓上型EDXRF元素分析装置。

スタンダードレスFP搭載 NEX QC+ QuantEZ

NEX QCシリーズより高性能な分析を求める場合には、NEX QC+ QuantEZをお勧めします。このシステムは、NEX QCシリーズの全機能を備えつつ、スタンダードレスFPのQuantEZソフトウェアを搭載しており、より迅速で費用対効果の高いソリューションを提供します。

QuantEZソフトウェアは、直感的なフローバーインターフェースを採用しており、操作を簡素化するとともに、専用の分析メソッドの作成を容易にします。また、RPF-SQXが使用でき、より高精度な元素分析が求められる用途にも対応します。

リガク NEX QC+ QuantEZ 卓上型EDXRF元素分析装置とデスクトップコンピュータ。

高性能・微小スポット分析用 NEX DE シリーズ

高スループット、微小スポット分析、重元素領域の感度向上が必要な場合に推奨されます。これらのシステムは、試料の元素同定、スクリーニング分析等を迅速に行い、高精度な結果を提供します。また、RPF-SQXを搭載し、複雑なアプリケーションにも対応可能です。

リガクNEX DEシリーズ卓上型EDXRF元素分析装置とデスクトップコンピュータ。

複雑なアプリケーションに対応 NEX CG II シリーズ

高精度と高感度が求められる場合に推奨します。これらのシステムは、超微量元素や複雑なマトリックスを有する試料に最適です。さらに、リガクのRPF-SQXおよび散乱線FP法を搭載し、精度の高い分析を実現します。

リガクNEX CG IIシリーズ卓上型EDXRF元素分析装置とデスクトップコンピュータ。

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