SmartLab Studio II
X線分析統合ソフトウェア
測定から解析まで、X線分析のすべてをこなす統合ソフトウェア
SmartLab Studio II は、全自動多目的X線回折装置SmartLabによる測定、および得られたデータの解析を行う統合ソフトウェアです。SmartLab Studio II は、調整・測定・解析・レポート作成まで、X線分析のすべての作業をサポートします。プラグインテクノロジーの採用により、SmartLabに必要な機能がいくつかのプラグインに分割されています。測定プラグインには、リガクの熟練者のノウハウを結集した「パーツアクティビティ*1」が用意されており、初心者の方でも、常に最高のデータを得ることができるよう設計されています。解析プラグインでは、用意されたフローバーに沿って誰でも簡単に解析を進めることができます。熟練者にはソリューションツリーが用意され、一段上の解析を容易に行うことができる仕組みも実装されています。
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SmartLab Studio II 特長
SmartLab Studio II 動画
SmartLab Studio II オプション
以下のアクセサリーが、この製品で使用できます。
人工知能搭載 - 結晶相同定
このAI(Artificial Intelligence:人工知能)搭載モジュールは、類似した試料の分析の中で、不純物や異物などマイナー相の同定が難しい場合に効果を発揮します。
人工知能搭載 - XRDプロファイル分解
このAI(Artificial Intelligence:人工知能)搭載モジュールは、未知の混合物のX線回折(XRD)パターンを複数の成分に分離し、各相の定量分析を行うことができます。
人工知能搭載 - X線反射率分析診断
このAI(Artificial Intelligence:人工知能)搭載モジュールは、X線反射率(XRR)解析の質と精度を向上させるために、シミュレーションモデルをどのように修正すれば良いかを提案します。
RMC法
Reverse Monte-Carlo RMC 法は、R. L. McgreevyとL. Putzaiらによって報告された実測値を再現する構造モデルを探査する手法であり、当初は液体や非晶質の構造探査手法としてよく使われていました。
全散乱測定
PDF解析のための測定は、全散乱測定(Total Scattering Measurement)と呼ばれており、 その理由は、回折ピークだけではなく通常のXRD測定ではバックグランドとして取り扱われる局所構造を反映したブロードな散乱強度(散漫散乱)も解析に使用するためです。
SmartLab Studio II アプリケーションノート
以下のアプリケーションノートはこの製品に関連しています。
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PHRM0002 - 医薬品のためのin-situ同時DSC-湿度-粉末X線回折測定
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BATT0003 - 電池評価
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BATT0002 - 電池材料評価
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BATT0001 - 電池材料開発
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XRD1008 - X線回折装置による鉄鋼材料の 定性・定量分析と残留応力解析
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XRD1007 - X線回折装置による耐火物結晶相の Rietveld 定量分析
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XRD1006 - X線回折装置による高分子の配向評価
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XRD1004 - 粉末X線回折法による高分子の評価
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B-XRD3003 - 粗大結晶粒からなる電磁鋼板の 残留応力評価への試料揺動の効果
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B-XRD2036 - 高速逆格子マップによるIII-V 族窒化物薄膜の 結晶方位の乱れた成分の検出
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B-XRD2035 - III-V 族窒化物薄膜のチルト幅・ツイスト幅の 試料面内分布評価
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B-XRD2008 - X線回折装置による強誘電体薄膜の配向評価
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B-XRD2004 - X線回折装置による反射小角X線散乱法を用いた Low-k 膜の空孔サイズ分布の評価
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B-XRD1155 - シームレス多次元ピクセル検出器を用いた電池正極材料中の微量成分検出
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B-XRD1154 - フィルム垂直透過X線回折法による医薬品の配向抑制測定
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B-XRD1153 - 2次元検出器を用いた XRD-DSC 同時測定によるアセトアミノフェンの相転移追跡
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B-XRD1151 - XRD-DSC 同時測定によるスタチン系薬の 結晶相変化の観察
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B-XRD1148 - クラスター解析による三元系正極材の組成比分別
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B-XRD1145 - 気密試料ホルダーを用いた吸湿性製剤の測定
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B-XRD1144 - X線回折装置による銀メンブレンフィルターを用いた遊離ケイ酸の検量線作成
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B-XRD1130 - DD法®によるでんぷんの定量分析
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B-XRD1092 - X線回折装置による油脂の結晶化過程観察
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B-XRD1079 - X線回折装置によるキャピラリー温調アタッチメントを用いた 高温結晶相の未知構造解析
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B-XRD1077 - X線回折装置によるセラミックスの焼成過程の観測
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B-XRD1068 - X線回折装置MiniFlex300/600 による 建材中のアスベストの測定
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B-XRD1067 - X線回折装置による気密試料ホルダーを用いた吸湿性粘土鉱物の測定
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B-XRD1066 - X線回折装置による気密試料ホルダーを用いた潮解性材料の測定
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B-XRD1062 - X線回折装置による赤外線加熱高温装置を用いたシリサイド粉末の格子定数変化の観察
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B-XRD1061 - デスクトップX線回折装置を用いた鉄鉱石の結晶相同定
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B-XRD1024 - X線回折装置による高分子フィルムの結晶方位解析
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B-XRD1006 - デスクトップX線回折装置を用いた 0.1mass%のアスベストの検出
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B-XRD1143 - FP法で求めた結晶子サイズの妥当性の検証
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B-XRD1129 - TG-DTAとXRD-DSCを用いた 原薬の脱水挙動の観察
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B-XRD1109 - PDF解析による強誘電体ナノ粒子の結晶構造評価
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B-XRD1131 - PDF解析によるゼオライトの構造評価
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B-XRD1136 - 電子密度解析によるゼオライトの構造評価
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B-XRD1112 - PDF解析によるシリカガラスの構造評価
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B-XRD3001 - 微小部X線回折による ばねの深さ方向の応力分布評価
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B-XRD1123 - 透過X線回折測定によるラミネートセルの 正極材と負極材の同時オペランド測定
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B-XRD1076 - デスクトップX線回折装置を用いたリートベルト法によるセメント中の微量成分の定量分析
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B-XRD1080 - Mo線源を用いた リチウムイオン電池材料のリートベルト解析
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B-XRD1118 - 2次元検出器を用いた 金属材料の高速極点測定
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B-XRD1119 - ポリマーフィルムの配向係数を用いた材料評価
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B-XRD1081 - デスクトップX線回折装置を用いた 検量線法による原薬中の多形不純物の定量分析
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B-XRD1120 - DD法®による医薬品原薬の定量分析
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B-XRD1115 - DD法®によるγ-アルミナの定量分析
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B-XRD1132 - DD法®によるガラスの定量分析
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B-XRD1142 - DD法®による結晶多形の定量分析
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B-XRD1001 - WPPF法による混合試料の定量分析
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B-XRD1111 - DD(Direct Derivation)法®による 3成分試料の定量分析
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B-XRD1125 - DD法®による食塩の味の数値化
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B-XRD1146 - 参照強度比を基準にするリートベルト解析に よる高炉セメント中の高炉スラグの定量分析
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B-XRD1002 - RIR法による混合試料の定量分析
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B-XRD1043 - 高分解能集光ビーム光学系を用いた 低分子医薬品材料の未知構造解析
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B-XRD1121 - リアルタイム解析による混合粉末の結晶相同定
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B-XRD2023 - 2次元検出器を用いた微小角入射広角X線 散乱法による有機薄膜の結晶相同定
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B-XRD1103 - 2次元回折像を利用した 鉱物粉末中の微量粗大粒子の結晶相同定
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B-XRD2020 - 2次元検出器を用いた固体酸化物型 燃料電池材料の結晶相・配向状態評価
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B-XRD1137 - 微小部X線回折測定による 錠剤表面に付着した微小不純物の結晶相同定
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B-XRD1021 - 湿度雰囲気下でのXRD-DSC同時測定による 原薬の転移挙動の観察
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B-XRD1110 - 超小角X線散乱法による 強誘電体ナノ粒子の粒径評価
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B-XRD1102 - 超小角X線散乱法による顔料インクの粒径分布解析
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B-XRD1030 - 小角X線散乱法による 金属ナノ粒子の粒径分布評価
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B-XRD2009 - インプレーンX線回折法による 単結晶基板上の有機薄膜の結晶方位評価
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B-XRD2028 - インプレーン軸を使用した極点測定による シリサイド薄膜の特殊な繊維配向状態の解析
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B-XRD1133 - デスクトップX線回折装置による 医薬品原料の転移挙動の観察
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B-XRD2032 - 2次元検出器を用いた微小角入射広角X線散乱法によるポリプロピレン製品の配向状態評価
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B-XRD1020 - 湿度雰囲気下でのXRD-DSC同時測定による 水和物の脱水挙動の観察
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B-XRD1128 - TG-DTAとXRD-DSCを用いた原薬の脱水挙動の観察
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B-XRD1026 - 低温領域でのXRD-DSC測定による イオン液体の結晶化挙動の観察
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B-XRD1135 - XRD-DSC測定によるバターの結晶構造の観察
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B-XRD1089 - 電子基板の微小領域マッピング測定
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B-XRD1023 - 透過X線回折法による 錠剤中の多形不純物の定量分析
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B-XRD1063 - 反射・透過X線回折測定による 高分子フィルムの配向状態の観察
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B-XRD1107 - PDF解析及びRDF解析による材料評価
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B-XRD1114 - DD法®による原薬の微量不純物の定量下限
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XRD1003 - 固体医薬品の評価法③ ~水和物について調べる~
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XRD1001 - 固体医薬品の評価法① ~原薬の結晶形の種類を調べる~ (結晶多形の存在が既知の場合のアプローチ)
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B-XRD1105 - 2次元検出器を用いた 金属融解挙動の高速時分割測定
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B-XRD1147 - リートベルト解析によるクリンカー鉱物の 結晶多形の高精度な定量分析
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B-XRD2021 - 1次元検出器モードを用いた SiGeエピタキシャル薄膜の高速逆格子マップ測定
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B-XRD2024 - 1次元検出器モードを用いた III族窒化物薄膜の高速逆格子マップ測定
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B-XRD2030 - X線反射率法による 金属薄膜の膜厚の面内均一性評価
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B-XRD2027 - ロッキングカーブ測定による 単結晶基板の結晶方位の面内均一性評価
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B-XRD1122 - X線回折法によるう蝕歯の結晶状態の評価
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B-XRD3005 - Multiple hkl法による薄膜の残留応力評価
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B-XRD1113 - BVS法によるイオン価数の評価
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B-XRD1150 - X線回折法による リチウムイオン電池カーボン負極材料の黒鉛化度評価
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B-XRD1104 - 2次元回折像を利用した 超硬材の粒子状態と配向状態の確認
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B-XRD2031 - ロッキングカーブによる単結晶基板の反り評価
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B-XRD1078 - 水素ガス雰囲気下での燃料電池材料の 結晶子サイズと粒径分布の評価
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B-XRD1149 - Rietveld解析による チタン酸バリウムの結晶多形評価
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B-XRD1108 - 多データ高速処理と2次元検出器を用いた 生クリームの融解・結晶化過程の観察
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B-XRD1126 - XRD-DSC同時測定によるチョコレートの結晶構造観察
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B-XRD1018 - FP法による光触媒材料の結晶子サイズ分布解析
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B-XRD1072 - デスクトップX線回折装置を用いた 極微量の金属ナノ粒子の結晶子サイズ解析
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B-XRD1071 - シェラー法による触媒材料の結晶子サイズ解析
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B-XRD1035 - リートベルト法による医薬品共結晶の粉末結晶構造解析および不純物の定量分析
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B-XRD2006 - インプレーン逆格子マップによるエピタキシャル膜および極薄バッファー層の結晶方位評価
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B-XRD1014 - 極点測定による圧延板の結晶方位解析
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B-XRD2022 - X線反射トポグラフィーによる 単結晶基板の結晶欠陥観察
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B-XRD1139 - PDF解析によるフタロシアニン銅の分子積層間隔の算出
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B-XRD2026 - 広域逆格子マップによる 面内異方性基板上のエピタキシャル膜の評価
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B-XRD1141 - X 線回折法によるセメント水和反応の経時変化観察
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B-XRD1140 - リートベルト法によるセメント試料の正確で高精度な定量分析
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B-XRD1011 - 平行ビーム光学系と赤外線加熱高温装置を用いた 格子定数の温度依存性評価
SmartLab Studio II イベント
