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MiniFlex XpC

小巧型 X光繞射儀

針對工業生產的品質控制系統

為將實驗室級別的卓越分析性能帶到工業生產現場,理學推出 MiniFlex XpC——它是一款專為工業生產製造環境優化的粉末繞射儀,可達到快速、精準的品質控制檢測。該儀器搭載理學全新的 EasyX 品質控制軟體,操作流程高度簡化,僅需少量點擊即可完成測試。極簡界面設計消除了操作人員之間偶然誤差。MiniFlex XpC支援配置傳送帶或機械手臂,可達到樣品的全流程自動化處理,並能與生產線上其他分析儀器協作聯動。該系統配備 800 W X光源和短直徑測角儀,性能達到實驗室級設備水準,可顯著提升品質控制的檢測通量。

MiniFlex XpC 直视图 MiniFlex XpC 动态关节角度计和平台 (2) MiniFlex XpC 向右倾斜 MiniFlex XpC 动态关节角度计和平台 (1) MiniFlex XpC 向左倾斜 MiniFlex XpC straight view MiniFlex XpC goniometer and stage (2) MiniFlex XpC angled right MiniFlex XpC goniometer and stage (1) MiniFlex XpC angled left

MiniFlex XpC 概覽

全新樣品裝載系統

針對品質控制優化的樣品裝載機制,操作員無需開啟儀器門即可完成樣品裝載,同時支援機械手臂聯動的線上測量模式。系統支援線上和離線的樣品操作模式。新設計的樣品旋轉載台可搭配多種類型的樣品架,以滿足不同形態的樣品檢測需求。

高耐用性的高精度水平測角儀,滿足品質控制需求

基於旗艦產品SmartLab 技術的成熟技術,開發出適用於品質控制的新型水平樣品測角儀:兼具高耐用型和小巧型設計,可在工業生產環境中保持長期穩定的物相分析精度。

小巧型高功率 X光產生系統 

MiniFlex XpC搭載小巧型模製陶瓷 X光管,並對X光源產生器進行優化升級:在與 MiniFlex 桌上型 X光繞射儀的 600 W 產生器尺寸相當的前提下,達到了800 W的高功率輸出。  

大偵測面積、高解析度高速一維偵測器

配備的D/teX Ultra250偵測器的偵測面積較桌上型 MiniFlex 所採用的 D/teX Ultra2 擴大1.5 倍,可獲取更高強度的繞射數據,縮短檢測週期,支援工業生產線的高通量需求。  

篩選和品質控制專用 軟體 EasyX

該軟體整合了簡易測量、自動化分析、結果可視化與合格判定功能,降低了操作門檻,即使非專業分析人員亦可輕鬆上手。其新增的趨勢圖繪製功能,可達到檢測結果與設備狀態的動態追蹤。

全面的自動化支援

MiniFlex XpC 支援機械手臂或傳送帶(均為可選配件)的自動化解決方案。標準配置支援工業標準鋼環樣品架,其佔地面積僅約1 m²,為全球同類型繞射儀裡最小的設備。

MiniFlex XpC 功能

MiniFlex XpC 產品特性

理學基於多年研發所累積的 X 光繞射技術,推出專為品質控制所研發的 X 光繞射儀。設計直觀易用,操作門檻低,能確保不同操作員均可獲得穩定可靠的分析結果。透過優化的樣品裝載系統和 D/teX Ultra 250偵測器,可顯著提升系統檢測效率。

全球佔地面積最小的線上繞射儀
100% 兼容主流線上系統供應商的樣品架
採用新型小巧型800 W產生器與 X 光管
支援連接樣品裝載機器手臂
大偵測面積、高解析度高速一維探測器
θ-θ 樣品水平測角儀
EasyX 智慧操作軟體
  • 觸控螢幕操作
  • 從測量到數據分析只需三次點擊
  • 基於旗艦級 SmartLab Studio II平臺所開發
  • 支援語言:中文、英語、日語

MiniFlex XpC 影片

MiniFlex XpC 技術規格

技術原理 X 光繞射(XRD)
核心應用 小巧型品質控制專用 X 光繞射儀
儀器類型 θ-θ型 X 光繞射儀,搭載篩選/品質控制軟體 EasyX
標準配置 小巧型 X 光管
小巧型水平樣品測角儀
D/teX Ultra250 高解析度高速一維 X 光偵測器
控制系統 Windows 10 Pro 64 位操作系統
觸控螢幕顯示器
(支援外接PC)
尺寸 700(寬)x 1490(高)x 890(深)mm(核心設備)
重量 約 250 公斤(核心零件)
電源要求 單相:200-230 V 50/60 Hz, 6.5A

MiniFlex XpC 應用說明

以下應用說明與本產品相關

  • BATT1003 - Management of Graphitization Degree for Graphite Anode Material

  • BATT1002 - Lattice Constant and Crystallite Diameter Management for NCM Cathode Material

  • XRD1161 - MiniFlex XpC for Clinker Application

  • XRD1160 - Fast Analysis of Mineralogical Phases in Blended Cements using Miniflex XpC

  • B-XRD1148 - Composition ratio classification of ternary cathode material by cluster analysis

  • B-XRD1150 - Evaluation of Graphitization Degree of Lithium-ion Battery Carbon Anode Material by X-ray Diffractometry

  • B-XRD1168 - Phase identification and Quantitative Analysis of Nickel Ore by X-ray Diffraction

  • B-XRD1166 - Phase Identification and Quantitative Analysis of Copper Ore by X-ray Diffraction

  • B-XRD1165 - Phase Identification and Quantitative Analysis of Iron Ore by X-ray Diffraction

  • B-XRD1143 - Verifying the Validity of Crystallite Sizes Determined by the FP Method

  • B-XRD1076 - Rietveld Quantitative Analysis of Trace Components in Cement

  • B-XRD1115 - Quantitative Analysis of γ-Al₂O₃ by the DD Method

  • B-XRD1142 - Quantitative Analysis of Crystal Polymorphs by the DD Method

  • B-XRD1093 - Quantitative Analysis of Amorphous Components in Cement

  • B-XRD1146 - Quantification of Blast Furnace Slag by Rietveld Refinement using Reference Intensity Ratio

  • XRD1003 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (3): Confirming Hydrates

  • XRD1002 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (2): Confirming the Presence/absence of Amorphous Substances

  • XRD1001 - How to Evaluate Solid Pharmaceutical Drugs (1): Confirming the crystal form of an API

  • B-XRD1147 - High-precision Quantitative Analysis of Clinker Mineral Polymorphs by Rietveld Refinement

  • B-XRD1149 - Evaluation of Barium Titanate Polymorphs by Rietveld Analysis

  • B-XRD1140 - Accurate and Highly Precise Quantitative Analysis of Cement Samples using Rietveld Refinement

MiniFlex XpC 資源

網路研討會

製藥領域中的成分分析和無標樣定量分析  觀看錄音
製藥領域的粉末 X 光繞射 (XRD)應用  觀看記錄
難溶性藥物溶出速率的提升 - X 光繞射在藥物製劑開發中的關鍵作用  觀看記錄
Rietveld精修方法中的繞射光譜圖分析  觀看影片
SmartLab Studio II 軟體中Part 11合規性功能解析  觀看影片

理學雜誌/文章

adobe小巧型 X 光繞射儀 MiniFlex XpC  閱讀文章
adobe水泥材料的定量分析  閱讀文章

MiniFlex XpC 活動

在以下活動中深入了解我們的產品

  • AAPS PharmSci 360 - 2026
    2026年10月25日 - 2026年10月28日
    New Orleans, LA, USA
  • Conférence GDR MATEPI
    2026年11月2日 - 2026年11月6日
    Nice, France
  • SERMACS 2026
    2026年11月4日 - 2026年11月7日
    Memphis, TN, USA
  • 34th Leoben-Conference on Polymer Engineering and Science
    2026年11月5日 - 2026年11月6日
    Leoben, Austria
  • IWN2026(International Workshop on Nitride Semiconductors 2026)
    2026年11月8日 - 2026年11月13日
    Kumamoto, Japan
  • Webinar: Integrate Analytical Instruments into Your Self-driving Lab
    2026年11月11日 - 2026年11月11日
    Webinar
  • Eastern Analytical Symposium (EAS) 2026
    2026年11月16日 - 2026年11月18日
    New Jersey
  • MATERIAUX 2026
    2026年11月16日 - 2026年11月20日
    Grenoble, France
  • German Epitaxy Workshop
    2026年11月25日 - 2026年11月27日
    Freiburg, Germany
  • MRS Fall 2026
    2026年11月29日 - 2026年12月4日
    Boston, MA, USA
  • Advanced Automotive Battery Conf 2026
    2026年12月8日 - 2026年12月11日
    Las Vegas, NV, USA

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