全反射蛍光X線分析装置

全反射蛍光X線分析（TXRF）は、極めて微量の元素分析に使用される強力な分析手法です。TXRFでは、X線ビームが試料に非常に浅い角度で照射され、試料表面で全反射が起こります。これにより、試料表面でX線定在波が発生し、X線と試料表面との相互作用が最大限に高められます。この励起に対する試料からの蛍光X線を検出し、元素組成と濃度を決定します。TXRFは、液体試料や非常に少量の試料を分析する際に特に有用であり、高感度、優れた再現性、低い検出限界を提供し、環境モニタリング、ナノテクノロジー、半導体分析などの分野で貴重なツールとなっています。