TXRF

全反射 X光螢光光譜（TXRF）是一種功能強大的分析技術，用於對微量元素濃度極低的樣品進行元素分析。在 TXRF 中，主 X光束以非常淺的角度射向樣品，在樣品表面產生全反射。這就在樣品的薄層內產生了 X光駐波，最大限度地提高了 X光與樣品材料之間的相互作用。透過檢測樣品發出的X光螢光，以確定元素組成和濃度。TXRF 在分析液體樣品或極少量樣品時尤其具有優勢，因為它靈敏度高、重現性好、檢測限低，是環境監測、奈米技術和半導體分析等領域的寶貴工具。