シリコーン・コーティング

シリコーンの塗布が不適切な場合、製品の剥離特性が変化することがあります。EDXRFは、シリコーン被膜の付着量をわずか数秒で測定できる、迅速でシンプルかつ費用対効果の高い方法であり、シリコーンコーティングの品質管理に広く活用されています。この技術により、製品品質の一貫性を確保し、無駄を減らしながら生産プロセスを最適化できます。

パッケージングやラベリング、その他シリコーンコーティングを使用する業界において、EDXRFは非常に効果的なツールです。その使いやすさ、低コスト、そして非常に薄いシリコーンコーティングにも対応できる点が、あらゆる企業にとって魅力的な選択肢となります。さらに、シリコーンコーティングの付着量、元素組成を正確に測定するためのソリューションも提供しています。

シリコーン、シリコーンコーティングの分析用途で注目される元素。

シリコーン被膜の付着量分析にEDXRFを選ぶ理由

EDXRFは総合的な品質管理ソリューションを提供します

EDXRFは総合的な品質管理ソリューションを提供します。蛍光X線分析(XRF)の一種であるEDXRFは、離型コーティング剤、真空成形プラスチック、そしてシリコーンオイルをバリア層や離型コーティング剤として使用する業界で長年活用されてきた信頼性の高い技術です。

総合品質管理ソリューション

  • 紙、クレーコート紙、薄膜剥離ライナーのシリコーン分析
  • 特殊フィルムハイバリアパッケージングフィルムを含む、湿気・空気バリア性の分析
  • 印刷、金属蒸着、非金属蒸着
  • プラスチックや紙へのシリコーンコーティング
  • 真空成形プラスチック
NEX QCシリーズ卓上型EDXRF元素分析装置とインラインシリコンコート重量プロファイリング用NEX LS。

アットライン・ソリューション

シリコーンコーティング付着量やその他金属触媒の測定を迅速に行うために、NEX QCシリーズを提供しています。これらのシステムはコンパクトで、外部パソコンを必要とせず、省メンテナンスな費用対効果の高いソリューションです。

特長

  • シリコーンコーティングの付着量を迅速に測定
  • 超低シリコーン膜厚の測定対応
  • スズ(Sn)、ビスマス(Bi)、チタン(Ti)、プラチナ(Pt)などの金属触媒を含むシリコーン離型コーティング分析
  • ヘリウムや特殊なサンプルカップを使用せずにシリコーン測定が可能
  • 分析チャンバーにテストクーポンをセットするだけの簡単な試料前処理
  • シンプルな操作と内蔵プリンターによる高い利便性
リガクNEX QCシリーズ、卓上型EDXRF元素分析装置。

インライン・ソリューション

NEX LSは、ロール・ツー・ロール(R2R)アプリケーション向けに、シリコーンコート付着量のプロファイリングを提供するインラインソリューションです。生産を停止することなく、コーティングプロセス全体をリアルタイムで詳細に可視化し、即座に品質管理を判断し、製造プロセスを調整できます。

特長

  • モニタリングと制御 により、アットラインでのチェックを削減
  • ロール全体の交差方向および機械方向のデータを取得可能
  • ロール生産中の欠陥を即座に検出し、不良品の発生を最小限に抑制
  • トレーサビリティと監査対応のためのロールレポートとデータロギング機能
  • 簡単な自動校正と操作で、スムーズな導入と運用を実現
  • 最大2365 mmまでのウェブ幅 の測定が可能
  • 基材の色や組成のばらつきに左右されない一貫した性能(例:クレーコート紙)
リガクNEX LS、ロール・ツー・ロールアプリケーション用のインラインリアルタイム塗工重量プロファイリング。

NEX LSの動作を見る

NEX LSの仕組みは?

NEX LSは、非破壊のEDXRF技術を採用し、生産中の材料や製品の情報をリアルタイムで提供します。特に、シリコーンコートの付着量分析をリアルタイムで行い、ウェブアプリケーションに対応できる点が特長です。

本システムは、剛性の高いビームに取り付けられた測定ヘッドを備えており、リニアトラバース機構によってヘッドから表面までの距離を一定に保ちながら測定を行います。必要に応じて、塗膜の元素組成を直接測定することが可能です。また、被膜の付着量(または厚さ)は、元素のX線計数率が厚さに比例する原理を利用した直接測定のほか、基材元素からのX線の減衰を測定することで付着量を推定する間接測定のいずれにも対応しています。

測定では、分析ヘッドが移動するウェブを前後に掃引し、励起X線が対象製品に入射されます。これにより、材料中の原子が励起され、特性X線として蛍光を発します。この特性X線を検出器が検出し、コーティング中の元素を分析します。ユーザーは、広範囲にわたる詳細な分析を可能にするフルスキャンモード、または特定の位置でのモニタリングに適した固定分析ポジションを選択することができます。

測定データはスキャナーを介してコンソールボックスおよび工業用タッチスクリーンコンピュータに送信され、リアルタイムで可視化されます。交差方向(CD)および機械方向(MD)のプロファイルがグラフィカルに表示されることで、品質管理の精度が向上し、迅速なプロセス調整が可能になります。これにより、生産を中断することなく継続的に品質評価を行い、安定した製品品質の維持と生産プロセスの最適化を実現します。

NEX LS分析ヘッドは、移動するウェブをフルスキャンモードでスキャンする。
フルスキャン分析
NEX LS分析ヘッドは、移動するウェブ上のユーザー定義の固定分析位置を使用します。
固定分析ポジション

応用例

シリコーンコーティングの使用例をご覧ください。

コーティングされた紙。EDXRF App Note 1140 - NEX QC - 紙とプラスチックのシリコーンコーティングをお読みください。
EDXRF1140 NEX QC - 紙とプラスチックへのシリコーンコーティング
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コーティングされた紙。EDXRF App Note 1422 - NEX QC+ - 紙とプラスチックのシリコーンコーティングを読む。
EDXRF1422 NEX QC+ - 紙とプラスチックへのシリコーンコーティング
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プラスチック食品容器。EDXRF App Note 1559 - NEX QC+ - Low Silicone Coating on Plasticをお読みください。
EDXRF1559 NEX QC+ - プラスチックへの低シリコーンコーティング
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シリコーンコーティングの分析装置

アットラインでの迅速なチェックに最適 NEX QCシリーズ

シリコーンコーティングの付着量や組成を正確に測定できる、コストパフォーマンスに優れたシステムをお探しの方に最適です。NEX QCおよびNEX QC+は、直感的なタッチスクリーン操作と内蔵プリンターを備えており、利便性を向上させます。また、外部パソコンを使用する必要がなく、シンプルな運用が可能です。

リガクNEX QCシリーズ、卓上型EDXRF元素分析装置。

インライン分析用 NEX LS

ロール・ツー・ロール・アプリケーションの継続的なモニタリングと管理に最適なソリューションです。NEX LSは、インラインEDXRFシステムを採用し、生産プロセスを中断することなく、コーティングの特性や製品の組成に関する貴重なデータを提供します。リアルタイムでの欠陥検出が可能なため、迅速な品質管理の判断ができ、安定した製品品質の維持とプロセスの最適化をサポートします。

リガクNEX LS、ロール・ツー・ロールアプリケーション用のインラインリアルタイム塗工重量プロファイリング。