蛍光X線分析装置

蛍光X線分析（XRF）は、幅広い分野で非破壊元素分析として使用される分析手法です。この手法は、物質に高エネルギーX線を照射すると、物質内の原子が励起され蛍光X線（特性X線）を放射するという原理に基づきます。発生した蛍光X線を検出することで試料を構成する元素とその含有量を決定することができます。蛍光X線分析は、鉱業、窯業、石油化学、冶金、環境科学、考古学、惑星科学など産業から学術分野までさまざまな材料の元素分析に広く利用されています。