SAXS/WAXS（小角・広角X線散乱）

ナノスケール材料の形状と構造を検査

小角X線散乱（SAXS：Small Angle X-ray Scattering）および広角X線散乱（WAXS ： Wide Angle X-ray Scattering）は、 材料の構造をナノスケールから原子レベルまで評価するための強力な分析手法です。 SAXSは、数nmから数百nm程度の構造を対象とし、粒子サイズやサイズ分布、形状、空孔構造、比表面積などの評価に利用されます。一方、WAXSは結晶構造や結晶化度、結晶相、分子配向などの情報を提供し、材料のより短距離の規則性を解析することができます。

これらの手法では、試料に照射したX線の散乱パターンを解析することで、材料内部の階層構造を明らかにします。固体だけでなく、液体、ゲル、懸濁液など幅広い試料に適用できるため、ナノ粒子、ポリマー、タンパク質、多孔質材料など、さまざまな材料の評価に活用されています。 また、粒子構造だけでなく、ラメラ構造やフラクタル構造などの組織構造の解析にも適しています。試料調製が比較的容易で、非破壊で測定できることもSAXS/WAXSの大きな特長です。

SAXS/WAXSは、ポリマー、プラスチック、電池材料、金属材料、セメント、食品、医薬品など幅広い分野で利用されており、基礎研究から製品開発、品質管理までさまざまな用途に活用されています。