産業分野

X線の短い波長は、原子レベルの材料特性の解析に不可欠なプローブです。また、X線の高い透過力は、非破壊で微小な対象物の画像化を可能にします。

研究室（ラボ）から製造現場（ファブ）まで利用されるX線計測ソリューション

X線、ラマン、その他の分析技術は、原子レベルの分子構造から生物の画像化まで、幅広い視点を提供します。

X線分析は、研究開発における材料の詳細な特性評価や、生産および環境保護における元素組成や汚染物質の監視を可能にします。

X線分析では、材料の強度と耐久性を確認することができます。

携帯用ラマン分光計は化学的脅威を特定し、X線分析は法的証拠となる詳細な情報を提供します。