Instrumento de dispersión de rayos X por ángulo amplio y pequeño diseñado para el análisis de nanoestructuras.
Un sistema Kratky 2D modernizado que elimina las correcciones de datos requeridas por los sistemas tradicionales
Un sistema personalizado de difracción de rayos X de monocristal que tiene la capacidad de utilizar ambos puertos de una fuente de rayos X de ánodo giratorio.