我們的使命
因為我們深知 材料分析往往復雜而艱深 因此提供簡單易用的工具幫助您獲取 可靠結果與深度洞察
我們的 X光、電子、拉曼和熱分析儀器廣泛應用於各行各業，幫助您在研發和製程控制中分析各種材料。
X光分析覆蓋電池材料研究的各個層面：既能解析電極在充放電過程中的原子級結構變化，也能用於封裝電池的失效分析，是電池材料表徵的理想工具。
X光計量技術廣泛應用於元素分析、層狀結構分析和位錯成像，有助於半導體行業在研發、製程優化和品質控制中取得可靠成果。
X光分析技術能夠提供元素與結構分析，並支援失效分析所需的成像檢測，在電子產品開發與製程優化方面發揮著關鍵作用。
X光分析技術可揭露原材料及水泥製品的關鍵特性，為生產流程優化與品質控制提供重要依據。
X光與電子繞射儀在生命科學研究中發揮著關鍵作用，可在研發早期解析蛋白質及小分子結構。多模態分子成像技術用於臨床前研究，而X光CT適用於軟組織與植物樣品的成像分析。
X光與電子繞射技術用於藥物研發早期的晶體結構解析；在研發後期，X光粉末繞射技術可用於多晶型分析與結晶度定量表徵。拉曼光譜技術則主要用於原料鑑定及防偽識別。
七十餘載匠心傳承，我們持續創新分析儀器技術，以人性化設計提升操作便利性，讓您的科研工作更加從容且高效。
針對半導體製程研發與大規模量產的 X光計量設備。
用於晶體學分析的 X光與電子繞射儀，可解析晶體材料原子級三維結構。
X光繞射儀用於原子尺度晶體與非晶材料結構解析，X光散射儀可實現奈米級形態特徵研究。
X光螢光光譜儀用於對礦物、金屬、水泥、石油產品及聚合物等多種材料進行定性與定量元素分析。
Ｘ光無損檢測系統，應用於產品檢測；CT 掃描儀，用於材料科學與生命科學研究，有助於製程優化與故障分析。
手持式拉曼分析儀，用於檢測化學威脅、識別和驗證多種材料（毒品和爆炸物）。
新的分析技術可能令人怯步。我們將通過豐富的培訓活動、專業內容和有效資源助您輕鬆掌握。
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《理學期刊》是理學出版的科技類期刊，立足 X光分析，內容涵蓋 X光繞射 (XRD)、X光螢光 (XRF)、X光成像和其他分析應用。
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