跳至主要內容
中文 - 繁體
中文 - 繁體
Deutsch
English
日本語
简体中文
諮詢專家
保持聯繫
產品中心
行業應用
技術方法
資源中心
服務與支援
關於我們
聯絡我們
全部產品
產品檢索器
獲取資料
半導體計量工具
晶體學分析
X光繞射與散射
X 光螢光光譜儀
成像與無損檢測
熱分析
手持式拉曼光譜儀
零組件
製程控制
全部產品
探索理學全系列產品
產品檢索器
找到最適合您的產品
獲取資料
獲取產品資料
半導體計量工具
從實驗室到製程的X光量測解決方案
晶體學分析
用於晶體學研究的X光與電子繞射
X光繞射與散射
用於晶體材料分析的X光繞射儀
X 光螢光光譜儀
用於元素分析的X光螢光光譜儀
成像與無損檢測
用於X光成像的電腦斷層掃描與X光成像系統
熱分析
用於材料表徵的熱分析與氣體分析儀器
手持式拉曼光譜儀
用於材料鑑定的手持式拉曼光譜儀
零組件
X光源、偵測器、光學元件、磁流體密封件及高壓電源
製程控制
線上監測系統
半導體計量工具
從實驗室到晶圓廠的X光計量解決方案
WDXRF
適用於薄膜的靈活元素分析
XRR, EDXRF及光學技術
適用於裸晶圓與圖案晶圓的X光及混合計量解決方案
TXRF
晶圓表面汙染計量
高解析度XRD
用於外延薄膜的X光計量
XRT
無損位錯成像
XRD
用於晶圓及晶錠晶體取向分析的X光繞射
CDSAXS
X光關鍵尺寸計量
晶體學分析
用於晶體學分析的X光及電子繞射儀與耗材
X光繞射
用於粉末及小分子晶體學的X光繞射儀
電子繞射
用於粉末及小分子晶體學的電子繞射儀
X 光繞射與散射
用於原子級材料表徵的X光繞射與散射分析
XRD
用於多晶材料表徵的X光繞射儀
SAXS
用於奈米尺度尺寸、形狀及形貌分析的小角度X光散射
應力分析
用於無損殘餘應力分析的X光繞射儀
X 光螢光光譜儀
用於元素分析的X光螢光光譜儀
EDXRF
用於元素分析的能量分散式X光螢光光譜儀
WDXRF
用於元素分析的波長分散式X光螢光光譜儀
TXRF
用於表面及微量相分析的全反射X光螢光光譜儀
成像與無損檢測
X光無損成像分析
X光電腦斷層掃描
用於無損三維成像的研究級工業X光電腦斷層掃描系統
無損檢測產品
用於無損檢測的X光成像儀器
分子成像
用於臨床前研究的多模式分子成像系統
全系列熱分析設備
用於解析材料特性的熱分析設備
DSC
檢測樣品在升溫或降溫過程中熱能量變化的設備
STA (TG-DSC)
檢測樣品品質變化及熱能量變化的材料分析設備
TMA
檢測樣品在升溫或降溫過程中形狀變化的分析設備
逸出氣體分析
用於材料表徵的逸出氣體分析儀器
其他熱分析設備
其他熱分析附件
軟體
用於熱分析與逸出氣體分析的測量及分析軟體
核心零件
X光源、偵測器、光學元件、磁流體密封件及高壓電源
X光源
高亮度X光源
光學元件
X光及紫外多層膜與晶體光學元件
偵測器
研究級X光偵測器
磁流體密封件
磁流體密封零組件
微型X光源及高壓系統
小型、高性能便攜及手持式系統
全部行業
奈米技術與材料科學
半導體與電子元件
生物技術與生命科學
環境與能源
建築與建材
安全與防護
學術研究
全部行業
了解我們服務的所有行業
奈米技術與材料科學
從原子到微米尺度的結構分析
半導體與電子元件
從實驗室到晶圓廠的計量工具
生物技術與生命科學
原子、奈米至微米尺度的有機材料表徵
環境與能源
滿足工業與環境需求的礦物學與元素分析
建築與建材
建築材料的礦物學與元素分析
安全與防護
用於化學威脅識別與法醫鑑定的工具
學術研究
用於教學的分析儀器及同步輻射X光零組件
奈米技術與材料科學
從原子到微米尺度的結構分析
材料科學研究
用於材料科學的晶體結構、奈米尺度形貌及元素分析
奈米技術
用於奈米技術研究的原子至奈米尺度材料表徵
先進與新型材料
為先進與新型材料研究開發的最新分析技術
化學
用於研究液體、粉末、固體、薄膜或單晶的廣泛分析工具
塗層與薄膜
用於塗層的元素、晶體學及結構表徵工具
金屬與合金
用於金屬與合金的元素、結晶相及織構分析
聚合物與塑膠
用於添加劑濃度、結晶度百分比計算及先進材料表徵的分析工具
複合材料
用於複合材料中濾材、纖維、孔隙及裂紋表徵的高解析度三維成像
陶瓷
用於陶瓷表徵的結晶相與元素分析
半導體與電子元件
從實驗室到晶圓廠的計量工具
半導體
X光計量解決方案
電子元件
電子元件研發與品質控制中的先進分析技術
生物技術與生命科學
原子、奈米至微米尺度的有機材料表徵
製藥
從藥物發現到製程控制的晶體結構與元素分析
生命科學研究
用於生命科學研究的蛋白質與小分子晶體學及多種成像儀器
生物技術
用於工程生物材料的晶體結構、奈米尺度結構及元素分析
食品與食品配料
用於食品及食品配料安全的元素分析與異物檢查
化妝品
用於研發、品質控制及防偽材料鑑定的晶體結構與元素分析
環境與能源
滿足工業與環境需求的礦物學與元素分析
電池
用於電極研發的晶體結構表徵及失效分析的無損成像
採礦與精煉
用於研發及過程控制各階段的元素與礦物學分析
環境與汙染
用於汙染監測及回收材料分類的重金屬分析
地質與礦物
用於深入研究地質標本及天然與人造礦物的礦物學與元素分析
石油與石化
用於探勘、生產及分銷過程的礦物學與元素分析
太陽能光電
用於薄膜太陽能光電材料的晶體與元素分析
建築與建材
建築材料的礦物學與元素分析
水泥
從研發到製程控制的元素與礦物學分析
瀝青
用於瀝青混合料開發與配方的元素與礦物學分析
安全與防護
用於化學威脅識別與法醫鑑定的工具
毒品、危險品及爆炸物檢查
用於化學威脅識別的手持式設備
法醫鑑定
用於法醫鑑定的元素與礦物學分析
學術研究
用於教學及同步輻射X光束線核心零件的分析儀器
教學
價格合理、操作簡便的教學用分析儀器
同步輻射
用於同步輻射X光束線的X光偵測器與光學元件
全部資源
活動與網路研討會日曆
新聞通訊
技術資料庫
應用資料庫
理學期刊
部落格文章
點播網路研討會
出版物資料庫
理學牛津繞射論壇
全部資源
教育活動、文章、出版物及其他資源
活動與網路研討會日曆
即將舉行的活動與網絡研討會
技術資料庫
了解適用於您分析需求的技術
應用資料庫
尋找您所在領域的應用案例
理學期刊
瀏覽與檢索理學期刊文章
部落格文章
瀏覽理學部落格
點播網路研討會
觀看網路研討會，學習新技術與行業需求
出版物資料庫
在已發表期刊文章中查看我們的產品應用
理學牛津繞射論壇
尋找關於軟體、晶體學常見問題等討論
技術庫
了解更多適用於您分析需求的技術
應用庫
查詢您領域中的應用範例
Rigaku期刊
瀏覽並搜尋Rigaku期刊文章
部落格
瀏覽Rigaku部落格
應客戶要求舉辦的網路研討會
觀看應客戶要求舉辦的網路研討會，學習新技術與產業趨勢
出版物庫
查看我們的產品在已發表的期刊文章中的應用
服務與支援
聯繫服務支援
客戶培訓
軟體下載
服務與支援
高品質的專業服務與支援
聯繫服務支援
聯繫服務支援團隊
客戶培訓
客戶培訓安排與線上學習課程
軟體下載
舊版軟體下載
關於我們
聯絡我們
尋找經銷商
新聞與媒體發布
關於理學
加入理學
永續發展
關於我們
查看公司資訊概覽
聯絡我們
透過郵件或表單聯絡我們
尋找經銷商
尋找您所在地區的理學經銷商
新聞與媒體發布
瀏覽理學新聞與媒體發布
關於理學
了解我們及發展歷程
加入理學
尋找理學招募職位
永續發展
理學致力於創造更美好、更永續發展的世界
產品中心
行業應用
技術方法
資源中心
服務與支援
關於我們
聯絡我們
產品中心
全部產品
產品檢索器
獲取資料
半導體計量工具
晶體學分析
X光繞射與散射
X 光螢光光譜儀
成像與無損檢測
熱分析
手持式拉曼光譜儀
零組件
製程控制
行業應用
全部行業
奈米技術與材料科學
半導體與電子元件
生物技術與生命科學
環境與能源
建築與建材
安全與防護
學術研究
資源中心
全部資源
活動與網路研討會日曆
新聞通訊
技術資料庫
應用資料庫
理學期刊
部落格文章
點播網路研討會
出版物資料庫
理學牛津繞射論壇
服務與支援
服務與支援
聯繫服務支援
客戶培訓
軟體下載
關於我們
關於我們
聯絡我們
尋找經銷商
新聞與媒體發布
關於理學
加入理學
永續發展
半導體計量工具
半導體計量工具
WDXRF
XRR, EDXRF及光學技術
TXRF
高解析度XRD
XRT
XRD
CDSAXS
晶體學分析
晶體學分析
X光繞射
電子繞射
X光繞射與散射
X 光繞射與散射
XRD
SAXS
應力分析
X 光螢光光譜儀
X 光螢光光譜儀
EDXRF
WDXRF
TXRF
成像與無損檢測
成像與無損檢測
X光電腦斷層掃描
無損檢測產品
分子成像
熱分析
全系列熱分析設備
DSC
STA (TG-DSC)
TMA
逸出氣體分析
其他熱分析設備
軟體
零組件
核心零件
X光源
光學元件
偵測器
磁流體密封件
微型X光源及高壓系統
奈米技術與材料科學
奈米技術與材料科學
材料科學研究
奈米技術
先進與新型材料
化學
塗層與薄膜
金屬與合金
聚合物與塑膠
複合材料
陶瓷
半導體與電子元件
半導體與電子元件
半導體
電子元件
生物技術與生命科學
生物技術與生命科學
製藥
生命科學研究
生物技術
食品與食品配料
化妝品
環境與能源
環境與能源
電池
採礦與精煉
環境與汙染
地質與礦物
石油與石化
太陽能光電
建築與建材
建築與建材
水泥
瀝青
安全與防護
安全與防護
毒品、危險品及爆炸物檢查
法醫鑑定
學術研究
學術研究
教學
同步輻射
新聞通訊
技術庫
應用庫
Rigaku期刊
部落格
應客戶要求舉辦的網路研討會
出版物庫
諮詢專家
保持聯繫
關於我們
查詢經銷商
請選擇產品類型及您所在的國家或地區::
選擇產品類型
選擇產品類型
化學晶體學
製程分析儀
蛋白質晶體學
手持式拉曼光譜儀（安防用）
手持式拉曼光譜儀（製藥用）
半導體計量
熱分析
波長色散X射線螢光光譜儀 (WDXRF)
能量色散X射線螢光光譜儀 (EDXRF)
XRD / X射線繞射
SAXS / 小角X射線散射
電腦斷層掃描/X射線顯微鏡
X射線光學元件/偵測器
真空產品
選擇國家或地區
選擇國家或地區
美國
加拿大
日本
阿爾巴尼亞
阿爾及利亞
安道爾
安哥拉
安圭拉
安地卡
阿根廷
亞美尼亞
阿魯巴
澳大利亞
奧地利
亞塞拜然
巴哈馬
巴林
孟加拉
巴貝多
巴布達
白俄羅斯
比利時
貝里斯
貝南
不丹
玻利維亞
波奈
波士尼亞
波札那
巴西
英屬維京群島
汶萊
保加利亞
布吉納法索
蒲隆地
凱科斯群島
柬埔寨
喀麥隆
維德角
開曼群島
查德
智利
中國
哥倫比亞
葛摩
哥斯大黎加
克羅埃西亞
庫拉索
賽普勒斯
捷克共和國
丹麥
吉布地
多米尼克
多明尼加共和國
東帝汶
厄瓜多
埃及
薩爾瓦多
厄利垂亞
愛沙尼亞
衣索比亞
芬蘭
法國
法屬圭亞那
加彭
甘比亞
喬治亞
德國
迦納
希臘
格陵蘭
格瑞那達
格瑞那丁
瓜地洛普
瓜地馬拉
幾內亞
蓋亞那
宏都拉斯
匈牙利
冰島
印度
印尼
伊朗
伊拉克
愛爾蘭
以色列
義大利
象牙海岸
牙買加
約旦
哈薩克
肯亞
韓國
科索沃
科威特
吉爾吉斯
寮國
拉脫維亞
賴索托
賴比瑞亞
列支敦斯登
立陶宛
盧森堡
馬其頓
馬達加斯加
馬來西亞
馬拉威
馬爾地夫
馬利
馬爾他
馬丁尼克
模里西斯
墨西哥
摩爾多瓦
摩納哥
蒙古
蒙特內哥羅
蒙哲臘
摩洛哥
莫三比克
緬甸
納米比亞
尼泊爾
荷蘭
尼維斯
紐西蘭
尼加拉瓜
尼日
奈及利亞
挪威
阿曼
巴基斯坦
巴拿馬
秘魯
巴拉圭
菲律賓
波蘭
葡萄牙
波多黎各
卡達
剛果共和國
幾內亞共和國
羅馬尼亞
俄羅斯
盧安達
聖露西亞
沙烏地阿拉伯
阿拉伯撒哈拉民主共和國
聖馬利諾
聖多美普林西比
塞內加爾
塞爾維亞
塞席爾
獅子山
新加坡
斯洛伐克
斯洛維尼亞
南非
南韓
西班牙
斯里蘭卡
聖克里斯多福
聖露西亞
聖文森
蘇利南
史瓦濟蘭
瑞典
瑞士
敘利亞
塔吉克
臺灣
坦尚尼亞
泰國
托巴哥
多哥
千里達
突尼西亞
土耳其
土庫曼
特克斯
阿拉伯聯合大公國
烏干達
烏克蘭
英國
美屬維京群島
烏拉圭
烏茲別克
梵蒂岡
委內瑞拉
越南
葉門
尚比亞
辛巴威
其他所有國家/地區
選擇國家
選擇國家
Alabama
Alaska
Arizona
Arkansas
California
Colorado
Connecticut
Delaware
Florida
Georgia
Hawaii
Idaho
Illinois
Indiana
Iowa
Kansas
Kentucky
Louisiana
Maine
Maryland
Massachusetts
Michigan
Minnesota
Mississippi
Missouri
Montana
Nebraska
Nevada
New Hampshire
New Jersey
New Mexico
New York
North Carolina
North Dakota
Ohio
Oklahoma
Oregon
Pennsylvania
Puerto Rico
Rhode Island
South Carolina
South Dakota
Tennessee
Texas
Utah
Vermont
Virginia
Washington
Washington, DC
West Virginia
Wisconsin
Wyoming
選擇省/地區
選擇省/地區
British Columbia
Alberta
Saskatchewan
Manitoba
Ontario
Quebec
New Brunswick
Prince Edward Island
Nova Scotia
Newfoundland
Yukon Territory
Northwest Territories
Nunavut
送出
搜尋中...
搜尋中...
搜尋時發生錯誤，請重試。
重試
聯絡人:
地區:
國家:
電話:
傳真:
Rigaku 日本銷售部
地區:
全球
4-14-4, Sendagaya
Shibuya-ku
Tokyo
151-0051
國家:
日本
電話:
+81 3-3479-0618
傳真:
+81 3-3479-6112
https://rigaku.com
info-gsm@rigaku.co.jp
理學全球業務網路
我們的業務部門與生產基地遍佈亞洲、歐洲及北美，構成覆蓋全球的研發與服務體系。
查看全球理學分部
返回頂部
