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XRF

X光螢光(XRF)是一項用於對多種材料進行無損元素分析的分析技術。它所依據的原理是,當用高能量 X光照射材料時,材料中的原子會被激發,並釋放出 X光螢光。透過檢測和分析這些釋放的 X光螢光,可以確定樣品的元素組成。

理學提供多種先進的 X光螢光光譜技術。每款 XRF 光譜儀各具特點,可根據樣品類型、所需靈敏度和分析精度等因素,選擇最適合的儀器。XRF技術廣泛應用於礦業、石油、冶金、環境監測及考古等諸多領域,對材料進行定性和定量元素分析,滿足不同應用領域的分析需求。

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WDXRF_ProductImages
波長分散式X光螢光光譜儀

在 WDXRF 分析中,透過分光晶體對樣品發射的 X光進行分光。該方法具備極高的光譜解析度,尤其適用於譜線重疊較多的樣品的精準分析。

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能量分散式X光螢光光譜儀

在 EDXRF分析 中,偵測器可以直接接收到樣品所產生的 X光。該方法適用於環境監測、石油、礦業及材料科學等領域的常見元素分析。

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TXRF_ProductImages
全反射 XRF

在 TXRF 分析中,樣品需置於平坦光滑的載片上,X光光束以極淺角度入射。隨後,對激發產生的螢光進行偵測與分析,從而實現高靈敏度、低檢測限的元素分析。

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明星產品

超级迷你 200
Supermini200

是一款下照射型體積小巧的波長分散式X光螢光光譜儀,可對應固體,粉末,液體等多類型樣品的分析。

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ZSX Primus IV
ZSX Primus IV

是一款高性能上照射型波長分散式X光螢光光譜儀,分析元素範圍從鈹(Be)到鋦(Cm) 。本儀器具有微小區域分析功能,是粉末樣品的最合適選擇。

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NEX CG II 系列
NEX CG II 系列

是一款高性能能量分散式X光螢光光譜儀,本儀器備有偏振光學系統,可以在極短時間內對各類型樣品進行精準的定性和定量分析。

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