オートメーション対応

自動装填機構:SLG2

このオプションは走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV / ZSX Primus III NEXT または多元素同時蛍光X線分析装置 Simultix15に取り付けることにより、測定対象を自動搬送し連続測定を可能とするものです。粉末試料をガラス化あるいは加圧成形する試料前処理機やX線回折装置などの別の分析システムと結合することで、連続的な分析・計測を実現できます。スループットの向上及び省人化が見込まれ、運用コスト削減に貢献します。

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対応製品

ZSX Primus III NEXT

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus III NEXT
防塵性を向上させた、粉体・固体試料向け上面照射型の実用モデル。

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ZSX Primus IV

走査型蛍光X線分析装置 ZSX Primus IV
粉体試料に最適、マッピング分析も可能な上面照射型の上位モデル。

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Simultix 15

多元素同時蛍光X線分析装置 Simultix15
多元素を同時に測定し、高スループット分析を可能にする上面照射型の専用モデル。

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