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マイクロCT

X-ray Computed Tomography Virtual Workshop #2. High-resolution CT Data Collection Techniques Part 1

本ワークショップでは、高解像度X線顕微鏡を使用したX線コンピュータ断層撮影（CT）の計測のデモンストレーションをご覧いただきます。観客の皆様はスキャン条件の選択や異なる結果の比較に参加しました。X線エネルギーや解像度、スキャン時間、サンプルの準備など、さまざまなパラメータを最適化する方法についても議論します。

学習内容：

  • 高解像度CTスキャンに関する、サンプルの取り付けから再構築されたボリュームデータの取得までの手順について
  • サンプルの材料や希望する解像度に基づいてCTスキャンの条件を最適化する方法について
  • 各スキャン条件がコントラスト、解像度、および信号対ノイズ比にどのように影響するかについて

リソース

 ダウンロード：バーチャルワークショップ02 - 高解像度CTデータ収集クイックリファレンス
Presenter: Aya Takase, Ph.D.
Rigaku
Head of Global Marketing Communications
Co-presenter: Angela Criswell, Ph.D.
Rigaku
Director of X-ray Imaging
Host: Tom Concolino, Ph.D.
Rigaku
Sales Manager

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