XRD計算ツール

物質の組成、密度、厚さから X線の吸収および透過率（I/I₀） を計算します。また、所望の透過率を得るために必要な物質の厚さも求めることができます。

ユーザーが指定した格子定数とミラー指数に基づき、Bragg の法則を用いて結晶の回折特性を計算します。これにより、面間隔、回折角（2θ）、および選択した結晶方位に対する試料の傾斜角（α）を求めることができます。

格子定数、X線の波長、そして 2θ の分解能に基づき、**結晶の回折角（2θ）と面間隔分解能（Δd/d）**を計算します。これにより、面間隔と回折幾何の関係を解析することができます。

粉末回折における試料位置ずれによる系統的なピーク位置誤差を評価します。回折角とゴニオメータ半径に基づいて 角度シフト（Δ2θ） を計算し、測定ピーク位置への影響を可視化します。

入射角、発散スリットサイズ、ゴニオメータ半径に基づき、Bragg–Brentano法における試料上の照射幅を計算します。これにより、測定条件によってビーム幅がどのように変化するかを評価できます。

入射角、スリット形状、ビームの発散角に基づき、平行ビーム法における試料上の照射幅を計算します。これにより、実験条件によってビーム幅がどのように変化するかを解析できます。

X線の信号品質を評価するために、ピーク強度、ピーク対バックグラウンド比（P/B比）、および 総強度・ピーク強度それぞれの相対標準偏差を計算します。これにより、検出精度や統計的信頼性を定量的に評価できます。