什麼是塗層與薄膜分析？

現代生活的各個方面都受益於塗層或薄膜技術。無論是整合電路芯片中的阻擋層薄膜，還是鋁製飲料罐上的轉化塗層，X光分析技術都是研究開發、生產過程控制和品質保證的重要組成部分。

X光螢光（XRF）可用於確定金屬塗層的厚度和元素組成。在半導體製造過程中，X光反射測量（XRR）常被用作計量工具，用於測量多層塗層堆疊的層厚，同時還可表徵其他塗層性質，如表面粗糙度和層間擴散。
作為奈米技術研究的重要推動手段，X光繞射（XRD）及相關技術用於研究薄膜的分子結構特性。理學的技術和經驗為塗層和薄膜測量提供了多種無損分析解決方案。

產品 | 應用說明

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