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ZSX Primus III NEXT

用於工業應用的波長分散式 X光螢光掃描光譜儀

固體樣品的元素分析

理學 ZSX Primus III NEXT 透過定量量測粉末和固體樣品中從 Be 到 Cm 的廣域範圍元素,提供快速的元素工業品質控制。

這款新型波長分散式 X光螢光掃描光譜儀採用理學獨特的 X光管上方配置,建立在 ZSX Primus 系列平臺之上。

带电脑的 ZSX Primus III NEXT

ZSX Primus III NEXT 概覽

適合工業應用

ZSX Primus III NEXT 是任何需要元素分析的工業應用的理想工具,例如:

・礦產和採礦
・金屬
・水泥
・陶瓷和耐火材料
・玻璃製造
・石油化工
・化學品
・環境

應用軟體套件

可提供針對特定行業的應用軟體套件。出貨時儲存校準曲線的 “預先校準軟體套件”、包含標準樣品和分析條件的 “校準軟體套件” 以及用於無標樣分析的 “靈敏度係數庫”(SQX)可幫助用戶啟動分析操作。

輕鬆共享應用程式

ZSX Primus III NEXT、ZSX Primus IV 和 ZSX Primus IVi 共享相同的硬體和軟體平臺,使光譜儀之間可以輕鬆共享應用程式。

提高分析結果的品質

測量統計數據和光譜儀物理參數可與每個分析結果一起顯示,便於發現異常,讓您對每個分析結果都充滿信心。

ZSX Primus III NEXT是讓您在有著高度要求的工業環境中達到快速可靠生產控制的理想合作伙伴。

ZSX Primus III NEXT 功能

適用於工業環境的先進 WDXRF 光譜儀
最先進的工業光譜儀,適用於更苛刻的工作條件
X光管上方配置提高了可靠性
降低光譜儀受汙染的風險,延長正常運作時間
擴展分析靈活性
₄Be 至 ₉₆CM - 全面分析功能
ZSX 導向軟體
無須成為專家。結合智慧軟體協助校準開發
高速分析
幾分鐘內即可獲得精確無誤的結果,達到實時製程控制
經濟實惠的定價
設備價格都非常實惠
持續改進服務和軟體應用支援
理學是值得信賴的合作伙伴
數據共享
可使所有實驗室的理學光譜儀在相同的標準下運作

ZSX Primus III NEXT 技術規格

分析範圍 ₈O - ₉₆Cm 標準(₄Be - ₉₆Cm 選配 - 視晶體配置而定)
光譜法 波長分散式 X 光螢光
氣氛 真空
X光管 端窗類型 Rh 材質 3 千瓦
照射方法 X光管上方配置
樣品更換器 多達 48 個位置的可擴展樣品更換器
最大樣品尺寸 φ 52 毫米 × 30 毫米(高)
濾光片 Ni400、Ni40、Al125、Al25
準直器 3 位自動交換設備
標準狹縫和精細狹縫
可選配超輕元件狹縫
分析晶體 標配: LiF(200), PET, RX26, 鍺晶體
脈衝高度分析器 數位多通道分析儀(DMCA)
偵測器 閃爍計數器(SC)流氣正比計數器(F-PC)可選配:密封式正比計數器(S-PC LE),無需P-10氣體
電源要求 儀器:單相(200-240V)或三相(200V),50/60 Hz,40A 電腦:單相,100-240V,10A

ZSX Primus III NEXT 應用說明

以下應用說明與本產品相關

  • XRF1131 - Standardless FP Analysis of Lithium-ion Battery Cathode Material LiFePO₄ by ZSX Primus IV

  • BATT0004 - Chemical Composition Analysis of NMC Cathode

  • BATT0001 - Battery Material Development

  • WDXRF1126 - Accurate Quantitative Analysis of Ferrosilicon by the Fusion Method using ZSX Primus III NEXT

  • WDXRF1124 - Quantitative Analysis of Blast Furnace Slag by Fusion Method on the ZSX Primus III NEXT

  • WDXRF1121 - Quantitative Analysis of Cast Iron using ZSX Primus III NEXT

  • WDXRF1123 - Quantitative Analysis of Stainless Steel using the ZSX Primus III NEXT

  • WDXRF1122 - Silicate Rock Analysis by Fusion Bead Method on ZSX Primus III NEXT

ZSX Primus III NEXT 資源

網路研討會

土壤和沉積物中有害重元素的分析  觀看影片
快速簡便地檢查原料藥和中間體中殘留催化劑的無損 XRF 技術  觀看影片
透過 XRF 對完整藥丸進行無損和直接分析,對原料藥效力、輔料混合均勻性和重金屬雜質進行品質控制  觀看影片

理學期刊文章

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adobe連續桌上型 WDXRF 光譜儀 Supermini200  閱讀文章

ZSX Primus III NEXT 活動

在以下活動中深入了解我們的產品

  • Eastern Analytical Symposium (EAS) 2026
    2026年11月16日 - 2026年11月18日
    New Jersey
  • MRS Fall 2026
    2026年11月29日 - 2026年12月4日
    Boston, MA, USA
  • Advanced Automotive Battery Conf 2026
    2026年12月8日 - 2026年12月11日
    Las Vegas, NV, USA

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