理學產品系列

晶體學是一項重要的科學技術手段，可在原子尺度精確揭示晶體材料的三維結構訊息。

X光繞射與散射技術不僅能夠在原子尺度研究晶體和非晶材料，還可分析各類固體材料的奈米級形貌特徵。

X光螢光分析（XRF） 廣泛應用於採礦、石油、冶金、環境科學及考古等多個領域，可對各種材料進行定性與定量元素分析。

無損成像技術可在不破壞樣品完整性的前提下，用於檢測、分析與品質控制。此外， X光CT高解析度三維成像技術也廣泛應用於材料科學與生命科學研究領域。

熱分析包括一系列研究材料隨溫度變化而產生的物理變化及化學變化的科學技術。

理學手持式拉曼分析儀可在您最需要的情況下、對材料進行快速檢測、精準識別與可靠驗證。

理學提供基於 EDXRF 或 X光透射技術的線上元素分析控制儀器。